[发明专利]变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质有效

专利信息
申请号: 201910655320.3 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110208633B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 陆文伟;刘伟;谢俊朋 申请(专利权)人: 裕文新兴电子(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/62 分类号: G01R31/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518111 广东省深圳市龙岗区平湖街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 变压器 参数 测试 系统 方法 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种变压器参数测试系统,其特征在于,包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路;所述电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11;

所述万能表的公共端Com分别与第二开关Y02的一端、第五开关Y05的一端和第七开关Y07的一端相连,电流端A与第十一开关Y11的一端相连,电压端V分别与第三开关Y03的一端、第六开关Y06的一端和第八开关Y08的一端相连;

所述第二开关Y02的另一端与第十一开关Y11的另一端之间连接有第十开关Y10;所述测试电源的一端与所述第十一开关Y11的另一端相连,所述测试电源的另一端与所述第三开关Y03的另一端相连;

被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈;所述输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连,第二端与第三开关Y03的另一端相连;所述第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连,第二端与第六开关Y06的另一端相连;所述第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连,第二端与第八开关Y08的另一端相连;所述输入线圈的第二端与第一输出线圈的第一端通过第四开关Y04相连,且第一输出线圈的第二端与第二输出线圈的第二端通过第四开关Y04相连;

所述负载电路包括第一负载电路和第二负载电路,所述第一负载电路为第一输出线圈的负载电路,第二负载电路为第二输出线圈的负载电路。

2.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述第一负载电路和第二负载电路分别串联有第九开关Y09。

3.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述输入线圈的第一端和第二端分别串联有第一开关Y01。

4.根据权利要求1所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述测试电源包括电源输出级别控制电路,所述测试电源的一端为电压输出公共端,所述测试电源的另一端通过电源输出级别控制电路相连,能够控制输出至少两级电压,根据需要提供的测试电压,控制电压输出级别。

5.根据权利要求1到4之一所述的变压器参数测试系统,其特征在于,所述电磁控制开关电路的所有开关均为继电器开关。

6.一种变压器参数测试方法,基于权利要求1到5之一所述的变压器测试系统实现,包括IPO测试项目、相位/匝数测试项目和输出电压测试项目,所述IPO是指空载输入电流或输入激励电流;其中,

IPO测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动闭合导通IPO测试项目的相关开关,断开非IPO测试项目的相关开关,获得IPO测试结果数值;

相位/匝数测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动闭合导通相位/匝数测试项目的相关开关,断开非相位/匝数测试项目的相关开关,获得测试结果数值;

输出电压测试项目的测试方法包括,根据测试电源电压需求调节测试电源的输出电压级别,自动闭合导通输出电压测试项目的相关开关,断开非输出电压测试项目的相关开关,获得测试结果数值。

7.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述测试方法还包括,先进行相位/匝数测试项目测试、再进行IPO测试项目的测试,再进行输出电压测试项目的测试。

8.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述方法还包括,判断每项测试结果数值是否在对应的标准阈值内,如果否,则进行第一提示。

9.根据权利要求6所述的变压器参数测试方法,所述方法还包括,对被测变压器的所有测试项目的测试完成以后,判断是否有测试结果数值不在对应标准阈值范围内,如果是,则进行第二提示。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行权利要求6到9中任一种方法的计算机程序。

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