[发明专利]变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质

说明书

本发明涉及变压器参数测试系统、测试方法及计算机存储介质，其中，测试系统包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路；电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11；被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈；输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连，第二端与第三开关Y03的另一端相连；第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连，第二端与第六开关Y06的另一端相连；第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连，第二端与第八开关Y08的另一端相连。与现有技术相比，在保证测试精度的条件下，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及电子设备参数测试领域，特别是涉及变压器设备参数测试的测试系统、测试方法及计算机存储介质。

背景技术

对于变压器的性能参数检测项目，包括IPO（空载输入电流或输入激磁电流）测试项目、相位/匝数测试项目和负载输出电压测试项目，用于检测是否满足相应需求，从而得出变压器的性能是否合格。

现有的测试方法，一类对上述三个测试项目所采用的测试电路系统分开，测试时，测试那个项目则连接相应的测试电路系统，然后人工读取测试结果数据并进行记录；另一类，虽然会对至少两个测试项目集成在一个测试电路系统中，但是一方面电路结构复杂，难以控制，另一方面测试过程需要人工干预的程度高，测试过程缓慢，测试过程不方便自动切换测试，测试效率低。

发明内容

本发明提供了一种变压器参数测试系统，具有便于提高测试效率的特点。

本发明还提供了一种变压器参数测试方法，具有测试效率更高的特点。

本发明还提供了一种计算机存储介质，具有辅助实现上述变压器参数测试方法，提高测试效率的特点。

根据本发明提供的一种变压器参数测试系统，包括测试电源、万能表、负载电路和电磁控制开关电路；所述电磁控制开关电路包括第二开关Y02、第三开关Y03、第四开关Y04、第五开关Y05、第六开关Y06、第七开关Y07、第八开关Y08、第十开关Y10和第十一开关Y11；

所述万能表的公共端Com分别与第二开关Y02的一端、第五开关Y05的一端和第七开关Y07的一端相连，电流端A与第十一开关Y11的一端相连，电压端V分别与第三开关Y03的一端、第六开关Y06的一端和第八开关Y08的一端相连；

所述第二开关Y02的另一端与第十一开关Y11的另一端之间连接有第十开关Y10；所述测试电源的一端与所述第十一开关Y11的另一端相连，所述测试电源的另一端与所述第三开关Y03的另一端相连；

被测变压器包括输入线圈、第一输出线圈和第二输出线圈；所述输入线圈的第一端与第二开关Y02的另一端相连，第二端与第三开关Y03的另一端相连；所述第一输出线圈的第一端与第五开关Y05的另一端相连，第二端与第六开关Y06的另一端相连；所述第二输出线圈的第一端与第七开关Y07的另一端相连，第二端与第八开关Y08的另一端相连；所述输入线圈的第二端与第一输出线圈的第一端及第一输出线圈的第二端与第二输出线圈的第二端通过第四开关Y04相连；

所述负载电路包括第一负载电路和第二负载电路，所述第一负载电路为第一输出线圈的负载电路，第二负载电路为第二输出线圈的负载电路。

基于上述测试系统，在简单的电路结构基础上，通过简单的控制，就能够实现被测变压器的IPO测试、相位/匝数测试和输出电压测试，从而很大程度上提高了测试效率。

所述第一负载电路和第二负载电路分别串联有第九开关Y09。

所述输入线圈的第一端和第二端分别串联有第一开关Y01。