[发明专利]位置度角度公差检具在审

专利信息
申请号: 201910667473.X 申请日: 2019-07-23
公开(公告)号: CN112304182A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 吴晓峰;齐旺明;印仁军 申请(专利权)人: 上海天纳克排气系统有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/24
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 杨林洁
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 位置 角度 公差
【权利要求书】:

1.一种位置度角度公差检具,其特征在于,包括固定基座、安装在所述固定基座上的滑动测量块、用以驱动所述滑动测量块移动的驱动部以及用以将所述滑动测量块进行锁定的锁定机构,其中所述滑动测量块包括用于检测待检测物件的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件的角度公差的刻度。

2.如权利要求1所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述位置度角度公差检具包括连接所述滑动测量块的滑动轴以及与所述滑动轴相配合的第一滑动槽与第二滑动槽,其中所述第一滑动槽与所述第二滑动槽相互垂直。

3.如权利要求2所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述驱动部为连接在所述滑动轴上的手柄。

4.如权利要求1所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述锁定机构为止位手柄。

5.如权利要求1所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述滑动测量块包括水平板、竖直板、与所述竖直板相连且垂直于所述竖直板的第一刻度以及与所述水平板相连且垂直于所述水平板的第二刻度,其中所述第一刻度与所述第二刻度用于检测待检测物件的位置度公差。

6.如权利要求5所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述竖直板设有第三刻度,所述水平板设有第四刻度,其中所述第三刻度与所述第四刻度用于检测待检测物件的角度公差。

7.如权利要求6所述的位置度角度公差检具,其特征在于:所述检测待检测物件包括位于一端的墩头面;所述水平板还设有位于所述第四刻度一侧的第五刻度,所述第五刻度用于检测所述墩头面的位置度公差。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海天纳克排气系统有限公司,未经上海天纳克排气系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910667473.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top