[发明专利]位置度角度公差检具

说明书

一种位置度角度公差检具，其包括固定基座、安装在所述固定基座上的滑动测量块、用以驱动所述滑动测量块移动的驱动部以及用以将所述滑动测量块进行锁定的锁定机构，其中所述滑动测量块包括用于检测待检测物件的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件的角度公差的刻度。相较于现有技术，本发明能够对检测待检测物件的位置度公差以及角度公差同时进行测量，提高了效率。

技术领域

本发明涉及一种位置度角度公差检具，属于检测设备技术领域。

背景技术

现有的物理检具难以直接同时对同一特征的位置度和角度公差进行可读数测量，除非用角度测量仪或者CMM。而这两种方式成本高，节拍慢，适合抽检，无法满足量产的节拍。

发明内容

本发明的目的在于提供一种效率较高的位置度角度公差检具。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种位置度角度公差检具，其包括固定基座、安装在所述固定基座上的滑动测量块、用以驱动所述滑动测量块移动的驱动部以及用以将所述滑动测量块进行锁定的锁定机构，其中所述滑动测量块包括用于检测待检测物件的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件的角度公差的刻度。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述位置度角度公差检具包括连接所述滑动测量块的滑动轴以及与所述滑动轴相配合的第一滑动槽与第二滑动槽，其中所述第一滑动槽与所述第二滑动槽相互垂直。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述驱动部为连接在所述滑动轴上的手柄。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述锁定机构为止位手柄。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述滑动测量块包括水平板、竖直板、与所述竖直板相连且垂直于所述竖直板的第一刻度以及与所述水平板相连且垂直于所述水平板的第二刻度，其中所述第一刻度与所述第二刻度用于检测待检测物件的位置度公差。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述竖直板设有第三刻度，所述水平板设有第四刻度，其中所述第三刻度与所述第四刻度用于检测待检测物件的角度公差。

作为本发明进一步改进的技术方案，所述检测待检测物件包括位于一端的墩头面；所述水平板还设有位于所述第四刻度一侧的第五刻度，所述第五刻度用于检测所述墩头面的位置度公差。

相较于现有技术，本发明能够对检测待检测物件的位置度公差以及角度公差同时进行测量，提高了效率。

附图说明

图1是本发明位置度角度公差检具的立体示意图。

图2是图1的主视图。

图3是图1的左视图。

图4是图1的俯视图。

具体实施方式

请参图1至图4所示，本发明揭示了一种位置度角度公差检具，用于检测待检测物件1的位置度公差以及角度公差。在本发明图示的实施方式中，所述待检测物件1包括位于一端的墩头面13。所述位置度角度公差检具包括固定基座7、安装在所述固定基座7上的滑动测量块2、用以驱动所述滑动测量块2移动的驱动部5以及用以将所述滑动测量块2进行锁定的锁定机构11，其中所述滑动测量块2包括用于检测待检测物件1的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件1的角度公差的刻度。

具体地，所述位置度角度公差检具包括连接所述滑动测量块2的滑动轴6以及与所述滑动轴6相配合的第一滑动槽10与第二滑动槽8，其中所述第一滑动槽10与所述第二滑动槽8相互垂直。

在本发明图示的实施方式中，所述驱动部5为连接在所述滑动轴6上的手柄。所述锁定机构11为止位手柄。