[发明专利]检测系统、在其中进行多次编程的方法和显示装置

说明书

提供了一种检测系统、在其中进行多次编程的方法和显示装置。所述检测系统包括：显示装置，包括非易失性存储器；检测装置，被配置为产生用于施加到非易失性存储器的写入电压；以及保护部，被配置为当写入电压在可允许的电压范围内时，将写入电压施加到非易失性存储器，并且当写入电压不在可允许的电压范围内时，不将写入电压施加到非易失性存储器。将写入电压施加到非易失性存储器使能多次编程操作(MTP)，在所述多次编程操作中将参考数据写入到非易失性存储器。

技术领域

本公开涉及用于改善驱动可靠性的检测系统和显示装置以及使用该检测系统进行多次编程的方法和显示装置。

背景技术

显示装置包括液晶显示器(LCD)和有机发光显示器(OLED)。

LCD装置包括：液晶显示面板，利用液晶的透光性来显示图像；以及背光组件，设置在液晶显示面板下方并向液晶显示面板提供光。

OLED装置使用通过电子和空穴的复合来发光的有机发光二极管显示图像。OLED装置因为其具有快速响应时间并且以低功耗来驱动而被更经常地使用。

显示装置在生产工艺期间执行驱动显示装置所需的各种特性测试，并且将在各种特性测试中获得的用于驱动的参考数据写入非易失性存储器中。将参考数据写入到非易失性存储器的操作被称为多次编程(MTP，Multi-timeProgramming)。参考数据可以包括诸如图像数据的根据电学特性和光学特性的校正值、显示装置的每个驱动单元的各个驱动电压、面板驱动电压和驱动时序的数据。

在生产工艺期间，当通过检测装置将参考数据写入到非易失性存储器时，由于检测装置和外部EDS的间歇性操作错误，导致会施加异常的电压，从而会写入异常的参考数据。在异常的参考数据被写入到非易失性存储器之后，异常的参考数据不会被擦除，这会降低显示装置的可靠性。

发明内容

本公开的示例性实施例提供了一种用于改善驱动可靠性的检测系统。

本公开的示例性实施例提供了一种将参考数据多次编程到显示装置的方法。

根据本公开的示例性实施例，一种检测系统包括：显示装置，包括非易失性存储器；检测装置，被配置为产生用于施加到非易失性存储器的写入电压；以及保护部，被配置为当写入电压在可允许的电压范围内时，将写入电压施加到非易失性存储器，并且当写入电压不在可允许的电压范围内时，不将写入电压施加到非易失性存储器。将写入电压施加到非易失性存储器使能其中将参考数据写入到非易失性存储器的多次编程(MTP)操作。

在示例性实施例中，检测装置可以包括被配置为产生写入电压的检测控制器，并且保护部可以连接在检测控制器与非易失性存储器之间。

在示例性实施例中，保护部可以位于显示装置中。

在示例性实施例中，保护部可以位于检测装置中。

在示例性实施例中，保护部可以包括：第一比较器，被配置为对第一参考电压和写入电压进行比较；第二比较器，被配置为对第二参考电压和写入电压进行比较；以及逻辑电路，被配置为基于第一比较器的输出信号和第二比较器的输出信号产生用于控制是否将写入电压施加到非易失性存储器的写入控制信号。

在示例性实施例中，第一参考电压可以是可允许的电压范围内的最低电压，第二参考电压可以是可允许的电压范围内的最高电压，并且逻辑电路可以是NOR逻辑运算符。

在示例性实施例中，第一参考电压可以是可允许的电压范围内的最高电压，第二参考电压可以是可允许的电压范围内的最低电压，并且逻辑电路可以是AND逻辑运算符。

在示例性实施例中，非易失性存储器可以包括：MTP单元元件，包括一系列一次编程(OTP)单元；以及电压控制器，被配置为响应于写入控制信号来控制是否将写入电压施加到MTP单元元件。