[发明专利]热辐射现象探究用实验装置和实验方法

权利要求书

1.一种热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，包括支撑架(1)和多个夹持单元(2)，所述支撑架(1)包括支架底座(11)和支架杆(12)，所述夹持单元(2)包括连接杆(21)和用于夹持试管(3)的夹持部(22)，每个试管(3)中均具有温度传感器(4)，所述温度传感器(4)连接于微处理器(5)，所述微处理器(5)连接有显示模块(8)，所述夹持部(22)固定在所述连接杆(21)的一端，所述连接杆(21)远离所述夹持部(22)的一端通过调节结构(6)连接在所述支架杆(12)上，所述调节结构(6)包括高度调节部和水平及角度调节部。

2.根据权利要求1所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，多个夹持部(22)通过各自的连接杆(21)从上至下依次连接在所述支架杆(12)上；

且所述调节结构(6)包括具有U型槽(61)和弧形槽(62)的安装座，所述U型槽(61)与弧形槽(62)的槽口朝向相互垂直。

3.根据权利要求3所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，所述弧形槽(62)位于所述U型槽(61)的槽壁外部且背对所述U型槽(61)，所述U型槽(61)的槽壁外部一端位于所述弧形槽(62)的下方延伸有延伸平面(63)，所述延伸平面(63)上具有与所述弧形槽(62)相对设置的安装部(64)，所述安装部(64)及U型槽(61)远离所述弧形槽(62)的槽壁上均开设有螺纹孔(65)。

4.根据权利要求3所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，所述高度调节部包括所述U型槽(61)及第一调节螺杆(66)，所述水平及角度调节部包括所述弧形槽(62)及第二调节螺杆(67)，所述安装座通过穿过U型槽(61)上螺纹孔(65)的第一调节螺杆(66)固定在所述支架杆(12)上，所述连接杆(21)通过穿过安装部(64)上螺纹孔(65)的第二调节螺杆(67)固定在所述安装座上；

或者，所述水平及角度调节部包括所述U型槽(61)及第一调节螺杆(66)，所述高度调节部包括所述弧形槽(62)及第二调节螺杆(67)，所述安装座通过穿过安装部(64)上螺纹孔(65)的第二调节螺杆(67)固定在所述支架杆(12)上，所述连接杆(21)通过穿过U型槽(61)上螺纹孔(65)的第一调节螺杆(66)固定在所述安装座上。

并通过调节安装座在支架杆(12)上的位置进行高度调节。

5.根据权利要求4所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，所述支架杆(12)呈圆柱状结构以通过沿支架杆(12)周向旋转任意角度所述安装座调节安装座在所述支架杆(12)上的周向位置；

所述连接杆(21)呈圆柱状结构，以通过周向旋转所述连接杆(21)进行角度调节，通过水平移动连接杆(21)进行水平位置调节。

6.根据权利要求1所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，所述夹持部(22)包括相对设置的第一夹持片(221)和第二夹持片(222)，其中第一夹持片(221)固定在所述连接杆(21)上，所述第二夹持片(222)铰接连接于所述第一夹持片(221)，且第一夹持片(221)和第二夹持片(222)之间具有用于调节夹持角度的夹角调节部(7)。

7.根据权利要求8所述的热辐射现象探究用实验装置，其特征在于，所述夹角调节部(7)包括贯穿螺杆(71)、碟帽(72)及分别开设在第一夹持片(221)和第二夹持片(222)上的过孔，所述贯穿螺杆(71)依次穿过两个过孔，所述碟帽(72)螺接在贯穿螺杆(71)远离螺杆帽(73)的一端，且所述第一夹持片(221)和第二夹持片(222)位于所述螺杆帽(73)和碟帽(72)之间。