[发明专利]工件测量装置、工件测量方法以及计算机可读介质在审
申请号: | 201910672783.0 | 申请日: | 2019-07-24 |
公开(公告)号: | CN110793431A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 杉田祐树 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/66 |
代理公司: | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量对象 测量项目 测量程序 工件测量装置 测量点 图像 计算机可读介质 测量工件 测量路径 工件测量 作业负担 受理 检测 | ||
本发明提供一种工件测量装置、工件测量方法以及计算机可读介质,降低测量工件所需的作业负担。本发明的工件测量装置具有:显示部,其显示工件的图像;测量对象取得部,其受理工件的图像中测量对象的指定,对指定的测量对象对应的测量对象构造进行检测;测量项目设定部,其受理工件的图像中测量项目的指定;测量程序生成部,其针对测量对象构造生成测量程序,该测量程序设定了由测量项目设定部(11d)所指定的测量项目对应的测量点和接近点、以及包含测量点和接近点的测量路径。
技术领域
本发明涉及工件测量装置、工件测量方法以及记录有程序的计算机可读介质。
背景技术
以往,已知有为了进行机床加工的目的等而测量成为加工对象的工件的技术。
在测量工件时,使用了触摸传感器(接触探针)或激光传感器的测量方法,一般情况下在分辨率或精度高这方面有优点,但是存在一次能够测量的范围小、测量时间长这样的缺点。并且,例如在通过触摸传感器来进行测量时,操作员手动移动触摸传感器,因此,为了不损伤工件或触摸传感器,对于操作员来说需要较大的作业负担。
为了减轻这样的作业负担,已知如下结构:在输入测量点或接近点的坐标时,自动生成使触摸传感器移动的测量程序。但是,考虑坐标系并且掌握这样的多个点的坐标来进行输入,对于操作员来说依然需要较大的作业负担。
另一方面,使用通过视觉传感器等取得的图像来测量工件的形状和位置等的方法,一般情况下有可以在短时间测量大范围这样的优点,但是从测定分辨率、重复精度的观点来看,在设定工件坐标系等应用于机械加工的工序时,存在实用性差这样的缺点。
针对这样的课题,设计了如下工件测量方法:将工件图像与基于触摸传感器或激光传感器的测量手段相组合,由此相互弥补双方的缺点。
例如,在专利文献1中,公开了如下方法:将由视觉传感器取得的工件图像显示于显示器中,用户通过触摸操作在图像上指定测量点或接近点,根据该点的坐标,生成接触探针的自动测量程序。
现有技术文献
专利文献1:日本特开2018-018155
但是,在专利文献1所记载的技术中,根据设定测量点和接近点等相关的知识和经验、或测量对象的不同,有时需要设定多个测量点或接近点、方向等的繁杂手续。因此,如果可以在感官上通过更少的操作指定测量对象,则认为可以实现更高的便利性。
发明内容
本发明的目的在于降低测量工件所需的作业负担。
(1)本发明的工件测量装置(例如,后述的工件测量装置1),具有:显示部(例如,后述的显示部15),其显示工件的图像;测量对象指定部(例如,后述的测量对象取得部11c),其受理所述工件的图像中测量对象的指定;构造检测部(例如,后述的测量对象取得部11c),其检测由所述测量对象指定部所指定的测量对象对应的测量对象构造;测量项目指定部(例如,后述的测量项目设定部11d),其受理所述工件的图像中测量项目的指定;以及测量程序生成部(例如,后述的测量程序生成部11e),其针对所述测量对象构造生成测量程序,该测量程序设定了由所述测量项目指定部所指定的测量项目对应的测量点和接近点、以及包含所述测量点和接近点的测量路径。
(2)在(1)的工件测量装置中,也可以是,所述工件测量装置具有:测量路径显示部(例如,后述的UI显示控制部11a),其显示在所述测量程序中设定的所述测量点和接近点、以及包含所述测量点和接近点的所述测量路径。
(3)在(2)的工件测量装置中,也可以是,所述测量程序生成部受理针对由所述测量路径显示部显示的所述测量点和接近点、以及包含所述测量点和接近点的所述测量路径的修正。
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