[发明专利]一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统

权利要求书

1.一种相控阵天线测试方法，应用于一相控阵天线测试系统，其特征在于，包括：

通过输入设备获得测试参数，所述测试参数包括项目标识以及与所述项目标识对应的天线状态参数；

通过控制器基于所述测试参数确定出对应的测试范围，其中，所述测试范围与不同测试项目相对应；

通过控制器确定出与所述天线状态参数、所述测试范围对应的测试状态参数；

通过控制器控制待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作，以使对应信号测试装置测量获得对应的测试结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行波束测试时，所述天线状态参数包括预设的天线波位参数；和/或，

在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行幅相测试时，所述天线状态参数包括预设的天线幅相状态参数。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试参数确定出对应的测试范围，包括：

确定测试步进为f_△＝αΛ，0.05≤α≤0.4，f_△为测试步进，Λ为待测相控阵天线的工作带宽；和/或，

在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行功率测试和/或零值深度测试时，所述测试范围为θ_△∈θ₀±βθ_3dB，0.5≤β≤1，θ_△为测试步进，θ₀为所述相控阵天线的主波束宽度；和/或，

确定测试过程中的位置采样间隔为△θ＝γθ_3dB，0.05≤γ≤0.5；

其中，θ_3dB为波束3dB宽度。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过控制器确定出与所述天线状态参数、所述测试范围对应的测试状态参数，包括：

在所述相控阵天线测试系统包括传动机构时，通过控制器生成与所述测试范围对应的测试时序、测试朝向参数组，以及与所述天线状态参数、所述测试范围对应的天线步进状态参数组，其中，所述测试朝向参数组包括与所述测试时序中每个时刻对应的测试朝向参数，所述天线步进状态参数组包括与所述测试时序中每个时刻对应的天线状态参数，所述传动机构用以承载待测相控阵天线，或连接所述待测相控阵天线的承载机构；

所述通过控制器控制待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作，以使对应测试装置测量获得对应的测试结果，包括：

通过所述控制器控制所述传动机构进行姿态调整，以使所述传动机构在所述测试时序内每个时刻的姿态与对应时刻的测试朝向参数匹配；同时，通过所述控制器控制所述待测相控阵天线的射频模块和信号整理模块进行工作状态调整，以使所述待测相控阵天线在所述测试时序内每个时刻的信号收发状态与对应时刻的天线状态参数匹配；

通过所述控制器控制对应的信号测试装置在所述测试时序内每个时刻依次测量获得对应的测试结果。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述控制待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作以获得对应的测试结果之后，所述方法还包括：

通过所述控制器控制将所述测试结果存入所述相控阵天线测试系统的存储装置中；

在系统时间到达预设时刻时，通过所述控制器控制所述相控阵天线测试系统的信号输出装置将包括所述测试结果的数据包发送到后端设备。

6.一种相控阵天线测试系统，其特征在于，包括：

输入设备，用以获得测试参数，所述测试参数包括项目标识以及与所述项目标识对应的天线状态参数；

控制器，与所述输入设备、待测相控阵天线、以及至少一个信号测试装置连接，用以基于所述测试参数确定出对应的测试范围，确定出与所述天线状态参数、所述测试范围对应的测试状态参数，控制所述待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作，以使对应信号测试装置测量获得对应的测试结果，其中，所述测试范围与不同测试项目相对应。