[发明专利]一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统

说明书

本发明公开了一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统，通过由输入设备获得包括项目标识以及天线状态参数的测试参数，再基于所述测试参数而确定出对应的优选测试范围，进一步确定出与所述天线状态参数、所述测试范围对应的测试状态参数，最后控制待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作以获得对应的测试结果。由于本申请技术方案可以根据不同的测试项目和天线状态参数而确定出相对应的优选测试范围后，在较少的测试数据量基础上能够获得精度较高的测试结果，可见，本申请实施例中的技术方案具有在保证测试高精度的基础上提高相控阵天线测试效率的技术效果。

技术领域

本发明涉及相控阵天线测试技术领域，特别是涉及一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统。

背景技术

相控阵天线指的是通过控制阵列天线中辐射单元的馈电相位来改变方向图形状的天线，而控制相位可以改变天线方向图最大值的指向，以达到波束扫描的目的。

而在相控阵天线应用之前，通常需要对相控阵天线进行不同工作模式下的不同状态、不同范围、不同尺度等各方面的测量，不同的测试内容对应于不同的测试项目。例如，相控阵天线的结构通常为采用成千上万的单元所组成的阵列而形成天线阵面，不同的单元通常对应于不同的信号处理通道，为了补偿各个通道间的差异，相控阵天线在使用前需要进行大量测试以获得不同通道中的信号处理元器件对应的补偿数据。再例如，相控阵天线作为一种电扫天线，其还需要通过控制阵面的幅相分布而完成波束赋形和扫描，为了评估天线全空域全带宽的波束性能，还需要进行大量幅相测试以获得不同通道对应的幅相补偿数据。当然，相控阵天线的测试项目还可以包括天线的功率测试、天线的方向图形状测试、频率测试等等。

而在现有技术中，针对如此多种的测试项目，如果需要获得高精度的测试结果，往往需要完成对全天线阵面范围内各通道状态的测量，由此导致要完成高精度的相控阵天线测量需要花费大量的人力物力和时间。

可见，现有技术中存在着要实现相控阵天线多状态、宽范围、高精度、多尺度测量、多项目测量往往需要花费大量时间的技术问题。

发明内容

本申请提供一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统，用以解决现有技术中存在着的要实现相控阵天线多状态、宽范围、高精度、多尺度测量、多项目测量往往需要花费大量时间的技术问题。

本申请第一方面提供了一种相控阵天线测试方法，应用于一相控阵天线测试系统，包括：

通过输入设备获得测试参数，所述测试参数包括项目标识以及与所述项目标识对应的天线状态参数；

通过控制器基于所述测试参数确定出对应的测试范围；

通过控制器确定出与所述天线状态参数、所述测试范围对应的测试状态参数；

通过控制器控制待测相控阵天线按照所述测试状态参数进行工作，以使对应信号测试装置测量获得对应的测试结果。

可选地，在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行波束测试时，所述天线状态参数包括预设的天线波位参数；和/或，

在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行幅相测试时，所述天线状态参数包括预设的天线幅相状态参数。

可选地，所述基于所述测试参数确定出对应的测试范围，包括：

确定测试步进为f_△＝αΛ，0.05≤α≤0.4，f_△为测试步进，Λ为待测相控阵天线的工作带宽；和/或，

在所述项目标识表征需要对所述待测相控阵天线进行功率测试和/或零值深度测试时，所述测试范围为θ_△∈θ₀±βθ_3dB，0.5≤β≤1，θ_△为测试步进，θ₀为所述相控阵天线的主波束宽度；和/或，