[发明专利]柔性薄膜电容容值测试系统及方法

权利要求书

1.一种柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，包括测量座、容值测量模块、FPGA控制模块和显示模块：

所述测量座用于承载多个待测柔性薄膜电容，所述测量座上设有多组与各所述电容第一电极、第二电极接触的探针，各所述探针分别与所述容值测量模块电性连接；

所述容值测量模块用于测量各所述电容的信号参数；

所述FPGA控制模块分别与所述容值测量模块、所述显示模块电性连接，所述FPGA控制模块用于控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动所述显示模块显示电容容值和各所述电容位于所述测量座上的位置。

2.如权利要求1所述的柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，所述柔性薄膜电容容值测试系统还包括电源模块，所述电源模块分别与所述容值测量模块、所述FPGA控制模块和所述显示模块电性连接，所述电源模块用于为所述容值测量模块、所述FPGA控制模块、所述显示模块提供直流电压。

3.如权利要求2所述的柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，所述容值测量模块内设有电压和频率调节模块，所述电压和频率调节模块与所述FPGA控制模块电性连接，所述FPGA控制模块还用于控制所述电压和频率调节模块输出不同的测试电压和测试频率测量各所述电容的信号参数。

4.如权利要求1所述的柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，所述柔性薄膜电容容值测试系统还包括矩阵控制模块，所述矩阵控制模块分别与所述FPGA控制模块、所述容值测量模块电性连接，所述矩阵控制模块用于记录某一所述电容的位置以及控制与之对应的所述探针的接通与切断。

5.如权利要求1所述的柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，所述FPGA控制模块内设有存储模块，所述存储模块用于记录保存每次测试输出的测试条件、各所述电容的位置及容值。

6.如权利要求1所述的柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，所述测量座具有承载面，各所述电容排布在所述承载面上。

7.一种柔性薄膜电容容值测试方法，其特征在于，所述方法利用权利要求1至6任意一项所述的柔性薄膜电容容值测试系统，所述方法包括：

利用测量座承载多个待测柔性薄膜电容，并使所述测量座上的多组探针与各所述电容的第一电极、第二电极接触；

利用容值测量模块测量各所述电容的信号参数；

利用FPGA控制模块控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动显示模块显示容值和各所述电容位于所述测量座上的位置。

8.如权利要求7所述的柔性薄膜电容容值测试方法，其特征在于，利用电源模块为所述容值测量模块、所述FPGA控制模块、所述显示模块提供直流电压，所述电源模块内设有电压和频率调节模块，利用所述FPGA控制模块控制所述电压和频率调节模块输出不同的测试电压和测试频率测量各所述电容的信号参数。

9.如权利要求7所述的柔性薄膜电容容值测试方法，其特征在于，利用矩阵控制模块记录某一所述电容的位置以及控制与之对应的所述探针的接通与切断。

10.如权利要求7所述的柔性薄膜电容容值测试方法，其特征在于，所述FPGA控制模块内设有存储模块，利用所述存储模块记录保存每次测试输出的测试条件、各所述电容的位置及容值。