[发明专利]柔性薄膜电容容值测试系统及方法

说明书

一种柔性薄膜电容容值测试系统，包括测量座、容值测量模块、FPGA控制模块和显示模块：测量座用于承载多个待测柔性薄膜电容，测量座上设有多组与各所述电容第一电极、第二电极接触的探针，各探针分别与容值测量模块电性连接；容值测量模块用于测量各电容的信号参数；FPGA控制模块分别与容值测量模块、显示模块电性连接，FPGA控制模块用于控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动显示模块显示电容容值和各电容位于测量座上的位置。本发明的柔性薄膜电容容值测试系统可一次性测量多个电容的容值，测量速度快，成本低。本发明还涉及一种柔性薄膜电容容值测试方法。

技术领域

本发明涉及电容器技术领域，特别涉及一种柔性薄膜电容容值测试系统及方法。

背景技术

众所周知的，电容作为基础电子元器件，其广泛应用于智能手机、平板电脑、移动通信、计算机、测量仪器等等产品设备中；而电容出厂前都要进行耐压测试，以筛选出不合格产品。柔性薄膜电容作为电容的一类，柔性薄膜电容是一种平板电容结构，其上下平板电极之间介质是一种柔性薄膜电容，根据其电容结构特性，柔性薄膜平板电容值C计算公式如以下：

其中，C是柔性薄膜电容的容值；A是柔性薄膜电容上下平板电极的正对面积；D是柔性薄膜电容材料的介电系数；K是一个常量；t是柔性薄膜电容上下平板间的距离；由此公式可知，选定一种柔性薄膜电容材料后，容值C将正比于平板电极的正对面积，反比于平板电极的间距。所以，在柔性薄膜电容产品出货时，一般会将柔性薄膜电容的上下平板电极湿刻成各种规则或不规则图形，例如长方形、正方形、圆形、不规则图形，以获得多种不同电容值的电容。

但是，在测试同一批次各个电容的容值时，一般在电容测试设备的两个测试端连接测试探针，使探针分别与柔性薄膜电容的上下电极接触，然后进行电容发容值信号参数测试。但是，在测试过程中，需要一个人操作探针，另外一个人操作电容测试设备，极不便利；而且一次只能测试一个柔性薄膜电容，速度慢，成本高。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种柔性薄膜电容容值测试系统，可一次性测量多个电容的容值，测量速度快，成本低。

一种柔性薄膜电容容值测试系统，包括测量座、容值测量模块、FPGA控制模块和显示模块：

测量座用于承载多个待测柔性薄膜电容，测量座上设有多组与各所述电容第一电极、第二电极接触的探针，各探针分别与容值测量模块电性连接；

容值测量模块用于测量各电容的信号参数；

FPGA控制模块分别与容值测量模块、显示模块电性连接，FPGA控制模块用于控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动显示模块显示电容容值和各电容位于测量座上的位置。

在本发明的实施例中，上述柔性薄膜电容容值测试系统还包括电源模块，所述电源模块分别与所述容值测量模块、所述FPGA控制模块和所述显示模块电性连接，所述电源模块用于为所述容值测量模块、所述FPGA控制模块、所述显示模块提供直流电压。

在本发明的实施例中，上述容值测量模块内设有电压和频率调节模块，所述电压和频率调节模块与所述FPGA控制模块电性连接，所述FPGA控制模块还用于控制所述电压和频率调节模块输出不同的测试电压和测试频率测量各所述电容的信号参数。

在本发明的实施例中，上述柔性薄膜电容容值测试系统还包括矩阵控制模块，所述矩阵控制模块分别与所述FPGA控制模块、所述容值测量模块电性连接，所述矩阵控制模块用于记录某一所述电容的位置以及控制与之对应的所述探针的接通与切断。

在本发明的实施例中，上述FPGA控制模块内设有存储模块，所述存储模块用于记录保存每次测试输出的测试条件、各所述电容的位置及容值。

在本发明的实施例中，上述测量座具有承载面，各所述电容排布在所述承载面上。