[发明专利]存储设备写错误纠错能力的测试方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种存储设备写错误纠错能力的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S0、挑选空白或是被擦除数据的闪存块，并在挑选的闪存块中的数据页中写入数据；

S1、读取写入数据的闪存块上的所有数据页上的数据并保存在缓存中，然后擦除该闪存块中的数据；

S2、对被擦除数据的闪存块的数据页进行再写入操作；

S3、对被再次写入数据的数据块的数据页进行检验，根据报错的数据位的数量大小与所述步骤S0中写入数据的数据位的数量大小进行对比，得到第一对比结果，并将所述第一对比结果写入测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤S2之后，还包括：

根据报错的数据块的地址、数据页的地址与所述步骤S0中写入数据的数据位对应的数据块的地址、数据页的地址进行对比，得到第二对比结果，并将所述第二对比结果写入测试结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S0中的所述挑选空白或是被擦除数据的闪存块包括：

随机在存储芯片中选择多个空白或者被擦除数据的闪存块，且多个所述闪存块的地址是连续的、间隔的或连续与间隔并存的。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：

在所述步骤S0中，随机在所述挑选空白或是被擦除数据的闪存块中写入数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：

在步骤S0中，写入大于存储设备的纠错阈值的数据，将步骤S3中的所述测试结果记为第一检测结果；或者，

在步骤S0中，写入等于存储设备的纠错阈值的数据，将步骤S3中的所述测试结果记为第二检测结果；或者，

在步骤S0中，写入小于存储设备的纠错阈值的数据，将步骤S3中的所述测试结果记为第三检测结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

随机在待检测的存储设备中按照预设的存储地址写入数据，其中所述存储地址遍布于所述挑选空白或是被擦除数据的闪存块中的每一个数据块，但在每一个数据块的数据页的地址是随机分布的。

7.一种存储设备写错误纠错能力的测试系统，其特征在于，包括：

写入模块，其用于在待检测的存储芯片或存储设备上挑选空白或是已被擦除数据的闪存块，并在挑选的闪存块中的数据页上写入数据；

读取擦除模块，其用于读取所述写入模块中写入数据的闪存块上的所有数据页上的数据并保存在缓存中，然后擦除该闪存块中的数据；

再写入模块，其用于对所述读取擦除模块中被擦除的数据块的数据页进行再写入操作；

读取检验模块，其用于对被再次写入数据的数据块的数据页进行读取检验，根据报错的数据位的数量大小与所述写入模块中写入数据的数据位的数量大小进行对比，得到第一对比结果，并将所述第一对比结果写入测试结果。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于：

所述读取检验模块还根据报错的数据块的地址、数据页的地址与所述写入模块中写入数据的数据位对应的数据块的地址、数据页的地址进行对比，得到第二对比结果，并将所述第二对比结果写入测试结果。

9.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于：

随机在待检测的存储设备中按照预设的存储地址写入数据，其中所述存储地址遍布于所述挑选空白或是被擦除数据的闪存块中的每一个数据块，但在每一个数据块的数据页的地址是随机分布的。

10.一种存储介质，其存储有计算机程序，其特征在于：

所述计算机程序被处理器执行时实现上述权利要求1至6中任一项所述的存储设备写错误纠错能力的测试方法中的步骤。