[发明专利]一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910702722.4 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110428411B 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 吴奇峰;陈武;张胜森;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194;G01N21/88
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 赵伟
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二次 曝光 背光板 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于二次曝光的背光板检测方法,其特征在于,对平面背光板第一次曝光正常取像得到第一图像;提升曝光时间后进行二次曝光对所述背光板再次取像得到第二图像,提升曝光时间的时长满足将第二图像边缘区域的灰阶值提升至与第一图像中心灰阶相同;将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并,将合并得到的图像作为缺陷检测图像,通过设定的阈值分割参数将所述缺陷检测图像中符合分割条件的缺陷区域分割出来,检测出背光板缺陷;

其中,所述将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并包括:

以灰阶值等于中心灰阶与边缘灰阶平均值的位置作为划分中心区域与边缘区域的分界;在第一图像上,以分界向边缘方向多出N个像素的区域为第一图像分界区域;在第二图像上,以分界向中心区域方向多出N个像素的区域为第二图像分界区域,将第一、第二图像合并,使这两个图像的分界区域重合,重合区域的灰阶值为第一图像分界区域与第二图像分界区域的灰阶取平均值;N为自然数;

对缺陷检测图像通过设定的分割阈值将其中符合分割条件的缺陷区域分割出来,检测出背光板缺陷的方法为:

将灰阶不小于基准灰阶与设定亮缺陷阈值的亮点作为亮点缺陷分割出来;将灰阶不大于基准灰阶与设定暗缺陷阈值的暗点作为暗点缺陷分割出来,其中,以融合后图像的整体平均灰阶作为基准灰阶。

2.如权利要求1所述的背光板检测方法,其特征在于,还包括对所述缺陷检测图像进行增强和纹理抑制以降低噪声和背景纹理的步骤。

3.如权利要求1所述的背光板检测方法,其特征在于,还包括获取缺陷区域对比度的步骤,具体是根据缺陷区域灰阶与缺陷区域的背景灰阶平均值得到缺陷的对比度。

4.一种基于二次曝光的背光板检测系统,其特征在于,包括缺陷检测图像生成模块和缺陷检测模块;

所述缺陷检测图像生成模块用于对平面背光板第一次曝光正常取像得到第一图像;提升曝光时间后进行二次曝光对该背光板再次取像得到第二图像,提升曝光时间的时长满足将第二图像边缘区域的灰阶值提升至与第一图像中心灰阶相同;将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并,将合并得到的图像作为缺陷检测图像;

所述缺陷检测模块用于通过设定的分割阈值将所述缺陷检测图像中符合分割条件的缺陷区域分割出来,检测出背光板缺陷;

其中,所述将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并包括:

以灰阶值等于中心灰阶与边缘灰阶平均值的位置作为划分中心区域与边缘区域的分界;在第一图像上,以分界向边缘方向多出N个像素的区域为第一图像分界区域;在第二图像上,以分界向中心区域方向多出N个像素的区域为第二图像分界区域,将第一、第二图像合并,使这两个图像的分界区域重合,重合区域的灰阶值为第一图像分界区域与第二图像分界区域的灰阶取平均值;N为自然数;

通过设定的分割阈值将所述缺陷检测图像中符合分割条件的缺陷区域分割出来,检测出背光板缺陷的方法为:

将灰阶不小于基准灰阶与设定亮缺陷阈值的亮点作为亮点缺陷分割出来;将灰阶不大于基准灰阶与设定暗缺陷阈值的暗点作为暗点缺陷分割出来,其中,以融合后图像的整体平均灰阶作为基准灰阶。

5.一种终端设备,其特征在于,包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元,所述存储单元存储有计算机程序,当所述计算机程序被所述处理单元执行时,使得所述处理单元执行权利要求1~3任一项所述方法的步骤。

6.一种计算机可读介质,其特征在于,其存储有可由终端设备执行的计算机程序,当所述计算机程序在终端设备上运行时,使得所述终端设备执行权利要求1~3任一项所述方法的步骤。

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