[发明专利]一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统

说明书

本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统，对背光板第一次曝光正常取像得到第一图像；提升相机曝光时间后进行二次曝光对该背光板再次取像得到第二图像，将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并，将合并得到的图像作为缺陷检测图像用于背光板缺陷检测；这种方法可以有效解决背光检测图像周边灰阶较暗问题，使得用于缺陷检测的图像整体均匀性提升，在此基础上进一步通过简单参数卡控即可实现图像缺陷区域的整体分割，将该方法及系统用于AOI检测，不需要对面板划分区域分别设定参数进行分析，可极大提高检测效率，而且参数更易于维护，也可提高调参的效率。

技术领域

本发明属于背光板的自动化缺陷检测技术领域，更具体地，涉及一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统。

背景技术

自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)机台的检测是基于相机取像的图像进行面板缺陷检测，其检测流程如图1所示，首先通过相机取像获取背光的图像，将原图进行处理，具体是对图像预处理后进行图像的分割，将缺陷区域从其背景中分离出来，最后对缺陷区域进行计算并过滤，该过程的核心是将缺陷区域从原图像中分离出来，从而获得缺陷区域，而相机取像的图像质量对缺陷的检测有着关键性的影响，图像的均匀性越好，缺陷区域越容易从其背景中分离出来。目前，由于相机镜头光学特性的影响，图像均匀性不佳，越往图像边缘区域，图像的灰阶值越低，中心与周边灰阶差异较大，即图像的局部灰阶差异较大，这种差异是不利于缺陷分割的，由于图像的局部灰阶差异较大，难以找到一个合适的阈值对图像进行简单的阈值分割，既保证中心区域缺陷分割准确而又不至于边缘区域分割不出来，或是边缘区域分割准确而中心区域不会有过多的非缺陷被分割出来。因此需要有一种方法使中心区域与边缘区域灰阶值不宜过大，从而对中心和边缘区域找到一个合适的阈值分割，实现简单的参数卡控。

针对背光图像局部灰阶差较大的问题，现有技术方案是将中心区域与边缘区域分开，分别对两个区域进行缺陷分割，即对整幅背光图像进行分区卡控。图2是现有技术将图像分为中心区域和边缘区域的示意图，对于整副图像其局部灰阶差较大，而就中心区域或边缘区域而言，其局部灰阶差较小，这种分别对中心区域和边缘区域进行阈值分割，并进行参数的卡控的方法也能达到目的，但需要建立两套参数，且两套参数的标准也会不一样，如此维护起来效率较低。需要有一种方法能够提升背光图像整体的均匀性，缩小图像中心区域与边缘区域的灰阶差异，从而达到对中心区域与边缘区域只需一套参数，通过简单的参数卡控实现缺陷区域的分割。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统，通过将二次曝光后灰阶提升的图像边缘区域与正常曝光后的图像中心区域合并后作为缺陷检测图像，以此达到降低图像中心与边缘灰阶差的目的。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种基于二次曝光的背光板检测方法，对背光板第一次曝光正常取像得到第一图像；然后提升取像设备曝光时间后进行二次曝光对该背光板再次取像得到第二图像，将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并，将合并得到的图像作为缺陷检测图像，通过该种方式可以有效解决周边灰阶较低图像局部差异较大问题，获得的缺陷检测图像整体均匀性好，在此基础上通过设定简单的阈值分割参数将该缺陷检测图像中符合分割条件的缺陷区域分割出来，检测出背光板缺陷。

优选地，上述基于二次曝光的背光板检测方法，基于缺陷检测图像进行背光板缺陷检测的方法为：

对图像进行阈值分割，通过阈值分割将缺陷分割出来；

阈值分割通过设定的分割阈值将图像中符合条件的缺陷区域分割出来；具体地，

具体地，将灰阶不小于基准灰阶与设定亮缺陷阈值的亮点区域作为亮点缺陷分割出来；将灰阶不大于基准灰阶与设定暗缺陷阈值的暗区域作为暗点缺陷分割出来；

亮缺陷被分割出的条件是：

g≥g_b+t_bt