[发明专利]一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法

权利要求书

1.一种变频晶体点位的控制方法，其特征在于，包括：

基于所述变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系；

在所述平面坐标系中记录初始相位点，其中，所述初始相位点为所述变频晶体横截面上的起始工作点的坐标点；

控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点，其中，所述目标相位点为激光光斑在所述平面坐标系中的位置坐标；

以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制；

获取预设的步长值；基于所述步长值和所述初始相位点，扫描各个相位点；根据光斑与各个所述相位点的重合关系，校准所述初始相位点，包括：若扫描各个所述相位点的过程中光斑均处于所述横截面之内，则存储所述初始相位点；若扫描各个所述相位点的过程中光斑处于所述横截面之外，则重新确定一个初始相位点，直至扫描各个所述相位点时光斑均处于所述横截面之内，存储所述初始相位点；

在校准初始相位点后，准确获取各个相位点的位置信息。

2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制之后，还包括：

调整所述变频晶体的空间位置以切换激光照射在所述变频晶体横截面上的工作点位；

为各个工作点位匹配对应的加热温度。

3.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点，包括：

控制所述变频晶体沿第一方向从所述初始相位点移动至目标相位点；和/或

控制所述变频晶体沿第二方向从所述初始相位点移动至目标相位点，其中，所述第一方向与所述第二方向为相互垂直的两个方向。

4.根据权利要求2所述的控制方法，其特征在于，所述为各个工作点位匹配对应的加热温度之后，还包括：

当所述加热温度在预设温度范围以外时，调整所述变频晶体的俯仰角。

5.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述存储所述初始相位点之后包括：

根据所述初始相位点和所述目标相位点，确定相位偏移距离；

存储所述相位偏移距离，所述相位偏移距离为所述变频晶体从所述初始相位点移动至所述目标相位点的距离，所述相位偏移距离用于确定所述变频晶体从所述初始相位点移动至所述目标相位点需要移动的距离。

6.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述根据光斑与各个所述相位点的重合关系，校准所述初始相位点之后，还包括：

为各个所述相位点匹配预设时长，其中，所述预设时长用于若当前相位点的照射时长达到所述预设时长时，控制所述变频晶体从所述当前相位点移动至另一相位点。

7.一种变频晶体的换点方法，其特征在于，根据权利要求1至6任一项所述的控制方法确定基准坐标，包括：基于所述变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系；在所述平面坐标系中记录初始相位点的坐标，其中，所述初始相位点为所述变频晶体横截面上的起始工作点；控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点，其中，所述目标相位点为激光光斑在所述平面坐标系中的位置坐标；以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制；获取预设的步长值；基于所述步长值和所述初始相位点，扫描各个相位点；根据光斑与各个所述相位点的重合关系，校准所述初始相位点，包括：若扫描各个所述相位点的过程中光斑均处于所述横截面之内，则存储所述初始相位点；若扫描各个所述相位点的过程中光斑处于所述横截面之外，则重新确定一个初始相位点，直至扫描各个所述相位点时光斑均处于所述横截面之内，存储所述初始相位点；

在校准初始相位点后，准确获取各个相位点的位置信息；

以所述基准坐标为起点控制所述变频晶体移动；

当所述变频晶体任一工作点位的照射时长达到预设时长时，控制所述变频晶体从所述当前相位点移动至另一相位点。

8.根据权利要求7所述的换点方法，其特征在于，所述当所述变频晶体任一工作点位的照射时长达到预设时长时，控制所述变频晶体从所述当前相位点移动至另一相位点，包括：

当所述变频晶体任一工作点位的照射时长达到预设时长时，控制所述变频晶体沿第一方向从所述当前相位点移动至另一相位点；和/或

控制所述变频晶体沿第二方向从所述当前相位点移动至另一相位点，其中，所述第一方向与所述第二方向为相互垂直的两个方向。