[发明专利]一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法有效
申请号: | 201910703709.0 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN110445006B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 丁闯;邹志鹏;沈瑶;蒋峰 | 申请(专利权)人: | 苏州创鑫激光科技有限公司;深圳市创鑫激光股份有限公司 |
主分类号: | H01S3/108 | 分类号: | H01S3/108;G02F2/02 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 215152 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 变频 晶体 控制 方法 | ||
本发明实施例提供了一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法,属于激光技术领域。基于变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系;在平面坐标系中记录初始相位点的坐标,其中,初始相位点为变频晶体横截面上的起始工作点;控制变频晶体从初始相位点移动至目标相位点,其中,目标相位点为激光光斑在平面坐标系中的位置坐标;以目标相位点的坐标为基准坐标对变频晶体的点位进行控制。这样,在进行点位控制时均以目标相位点为基准,可以准确进行点位控制,进而可以避免变频晶体因点位控制的不准确而发生损坏,使得变频晶体的可使用点位进一步增多,可减少变频晶体的工作点位浪费,从而使得变频晶体可以长期运行。
技术领域
本发明实施例涉及激光技术领域,尤其涉及一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法。
背景技术
变频晶体材料是激光器中不可或缺的光学材料。由于紫外激光波长较短、变频晶体材料自身的缺陷、所在光路位置等因素的影响,使得变频晶体极易受到损伤,从而使得变频晶体无法保证长期运行。
发明内容
本发明实施例提供一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法,以解决现有技术中变频晶体无法保证长期运行的问题。
为了解决上述技术问题,本发明是这样实现的:
第一方面,本发明实施例提供了一种变频晶体点位的控制方法,包括:
基于所述变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系;
在所述平面坐标系中记录初始相位点的坐标,其中,所述初始相位点为所述变频晶体横截面上的起始工作点;
控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点,其中,所述目标相位点为激光光斑在所述平面坐标系中的位置坐标;
以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制。
可选的,所述以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制之后,还包括:
调整所述变频晶体的空间位置以切换激光照射在所述变频晶体横截面上的工作点位;
为各个工作点位匹配对应的加热温度。
可选的,所述控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点,包括:
控制所述变频晶体沿第一方向从所述初始相位点移动至目标相位点;和/或
控制所述变频晶体沿第二方向从所述初始相位点移动至目标相位点,其中,所述第一方向与所述第二方向为相互垂直的两个方向。
可选的,所述为各个工作点位匹配对应的加热温度之后,还包括:
当所述加热温度在预设温度范围以外时,调整所述变频晶体的俯仰角。
可选的,所述以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制之后,还包括:
获取预设的步长值;
基于所述步长值和所述初始相位点,扫描各个相位点;
根据光斑与各个所述相位点的重合关系,校准所述初始相位点。
可选的,所述根据光斑与各个所述相位点的重合关系,校准所述初始相位点,包括:
若扫描各个所述相位点的过程中光斑均处于所述横截面之内,则存储所述初始相位点;
若扫描各个所述相位点的过程中光斑处于所述横截面之外,则重新确定一个初始相位点,直至扫描各个所述相位点时光斑均处于所述横截面之内,存储所述初始相位点。
可选的,所述存储所述初始相位点之后包括:
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