[发明专利]基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法及系统

权利要求书

1.一种基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，包括：

S1、获取高分子材料样品的核磁共振T₂谱，所述高分子材料样品的核磁共振T₂谱是在时域核磁共振仪上采用固体回波序列测量得出的；

S2、获取所述核磁共振T₂谱的分解谱图，并记录所述分解图谱中的峰个数、峰位置或峰面积中的至少一项；

S3、通过所述峰个数表征所述高分子材料样品的相组成；通过所述峰位置表征所述高分子材料样品的相区内分子运动性；或通过所述峰面积的占比用表征所述高分子材料样品的相区大小。

2.根据权利要求1所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，所述步骤S1之前，包括：

将高分子材料样品置入具有变温功能的时域核磁共振仪样品室，通过控温设备对样品温度进行控制。

3.根据权利要求1所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，所述步骤S2中通过逆拉普拉斯变换(Inverse LaplaceTransformation)反演后获取所述核磁共振T₂谱的分解谱图。

4.根据权利要求3所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，反演终止时间设置为反演谱图中出现在时间轴上最大时间值处的峰对应时间值的2～10倍。

5.根据权利要求1所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，所述固体回波序列的第一个时间间隔(First Duration)为固体回波序列所限定的最短时间值，最终的时间间隔(Last Duration)为核磁共振T₂谱衰减到0时对应时间值的4～8倍。

6.根据权利要求1所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法，其特征在于，所述步骤S1之前包括：对所述高分子材料样品进行熔融加热后自然冷却到室温。

7.一种基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析系统，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取高分子材料样品的核磁共振T₂谱，所述高分子材料样品的核磁共振T₂谱是在时域核磁共振仪上采用固体回波序列测量得出的；

第二获取单元，与所述第一获取单元相连，用于获取所述核磁共振T₂谱的分解谱图，并记录所述分解图谱中的峰个数、峰位置或峰面积中的至少一项；

表征单元，与所述第二获取单元相连，用于通过所述峰个数表征所述高分子材料样品的相组成；通过所述峰位置表征所述高分子材料样品的相区内分子运动性；或通过所述峰面积的占比用表征所述高分子材料样品的相区大小。

8.根据权利要求7所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析系统，其特征在于，所述第二获取单元，用于通过逆拉普拉斯变换(InverseLaplace Transformation)反演后获取所述核磁共振T₂谱的分解谱图。

9.根据权利要求8所述基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析系统，其特征在于，反演终止时间设置为反演谱图中出现在时间轴上最大时间值处的峰对应时间值的2～10倍。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行的至少一个程序，其特征在于，所述至少一个程序被所述计算机执行时使所述计算机执行上述权利要求1～5任一项所述的方法中的步骤。