[发明专利]非理想Litz线线圈品质因数优化的方法在审
申请号: | 201910716461.1 | 申请日: | 2019-08-05 |
公开(公告)号: | CN110674597A | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 汪繁荣;彭禄 | 申请(专利权)人: | 湖北工业大学 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F30/3308 |
代理公司: | 42220 武汉帅丞知识产权代理有限公司 | 代理人: | 朱必武 |
地址: | 430068 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 求解 建模 高频损耗电阻 非理想 熔接头 电力电子系统 控制技术领域 线圈品质因数 多股绝缘线 长度位置 传送效率 导通电阻 电流分布 电阻分量 多重连接 概率分布 高频电阻 绝缘线股 邻近效应 无线电能 已知位置 均匀化 熔接 首端 细线 线束 绝缘 概率 阻碍 优化 | ||
1.非理想Litz线线圈品质因数优化的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:先进行非理想Litz线线圈高频损耗电阻的建模,包括股间电流分布建模与求解;高频损耗电阻中的导通电阻分量的建模与求解;高频损耗电阻中的邻近效应电阻分量的建模与求解;基于股间电流不均匀系数的高频损耗电阻求解;
S2:非理想Litz线线圈降损,包括构建半球形、圆锥形、扇形、空心薄壁圆柱等均流熔接头的三维模型;Litz线束表面股熔接均流;非均匀匝间间距的线匝磁场消减;最小损耗的熔接法优化;
S3:最后得出Litz线线圈品质因数优化的方法,建立依赖于频率的线圈品质因数的解析表达式;最优运行频率与最大品质因数求解。
2.根据权利要求1所述的非理想Litz线线圈品质因数优化的方法,其特征在于,所述S1中,股间电流分布建模与求解时:
在常见的熔接方法中,Litz线熔接头处形成一个圆柱导体,而绝缘细导线连接到圆柱导体一端的横截面上,因此可将整根Litz线的分成三个部分来建模,即首端圆柱熔接头、由绝缘细导线组成的Litz线束、尾端圆柱熔接头,由于Litz线制作时的绞制特性,要建立几千股绝缘细导线的绞制的三维模型基本上是不可能的,由于Litz线的绞制特性,任一绝缘细线的电流只与其在熔接头横截面的连接位置有关系,故可将Litz线束建模为平行的绝缘细导线组成,而不需要对几千股绝缘细导线的绞制进行特殊的建模;
在Litz线首端熔接头,居于横截面同一圈处已知位置的n(i)(i为线束横截面中包含的绝缘细导线的圈数,1≤i≤3)股绝缘细导线,在Litz线尾端熔接头横截面的位置未知,无法建立有限元模型,但这些位置满足一定的概率分布,假定p(j)是绝缘细导线在尾端横截面第j圈(1≤j≤3)的概率,则p(j)与第j圈的半径近似成正比(因在第j圈分布的细导线数量与其周长2πrj近似成正比),且何意一个细导线占据的面积都相等,则p(j)是可求解的,因此,由首端第i圈引出的n(i)股绝缘线在Litz线尾端的横截面第j圈上的数目为
n(j)=n(i)p(j)
据此,可确立全部Litz线束中全部n股绝缘细线在Litz线束两端熔接头依概率的分布情况,并利用有限元建模求解其电流分布。
3.根据权利要求2所述的非理想Litz线线圈品质因数优化的方法,其特征在于,所述S1中,高频损耗电阻中的导通电阻分量的建模与求解时:
高频损耗的等效电阻可表示为导通电阻和邻近效应电阻之和,即
R(ω)=Rcond(ω)+Rprox(ω),因此高频电阻的计算,可以分为两个部分,即导通电阻计算和邻近效应电阻计算;
在各股绝缘细线的股间电流分布已知的前提下,可直接将各股绝缘细线等效为等长度的长直导线来建立有限元模型,并求解其导通电阻,用解析法建立各股细导线的导通电阻表达式如下
且:
其中i表示第i股绝缘细导线,l是单股细导线的长度,Rcond_u,l是单股单位长度绝缘细导线的电阻,ξ是与趋肤深度δ相关的量;μ0是自由空间磁导率(μ0=4π×10-7H/m);μr是材料的相对磁导率(对于铜μr=1);r0是单股外绝缘细铜线的半径;ber、bei′、bei、ber′是几种开尔文函数,如果各股细导线流过的电流相同,则整个Litz线束的等效导通电阻就是每股线的1/n(n是该Litz线束中绝缘细导线的股数),但当各股细电线中流过的电流不同时,则可根据n股Litz线总的损耗和各股电流来计算其等效电阻如下
其中Ii是第i股绝缘细线中流过的电流且
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