[发明专利]高速大容量存储器及写入、读取和擦除方法有效

专利信息
申请号: 201910720242.0 申请日: 2019-08-06
公开(公告)号: CN112346646B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 李羚梅;刘博;尚进;云天嵩;蒋航;苏晓旭;李鑫儒;何海星;赵保磊 申请(专利权)人: 天津光电通信技术有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 天津合正知识产权代理有限公司 12229 代理人: 吕琦
地址: 300211*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 高速 容量 存储器 写入 读取 擦除 方法
【权利要求书】:

1.一种高速大容量存储器的数据写入方法,所述高速大容量存储器,包括:

8行8列NAND FLASH存储芯片;

8组控制线,每组控制线控制每列8片NAND FLASH存储芯片;

32组数据线,每组数据线分别与每横向两片NAND FLASH存储芯片电连接,用于实现读写;

FPGA,与所述8组控制线和32组数据线电连接,用于根据时序操作对NAND FLASH存储芯片进行读写控制;

其特征在于,包括:

获取所述NAND FLASH芯片阵列的坏块表;

根据所述坏块表执行写入操作;

降低时钟频率,以方便读取所述FPGA的编码;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次向第一行和第二行的NAND FLASH芯片的写入数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次向第三行和第四行的NAND FLASH芯片的写入数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次向第五行和第六行的NAND FLASH芯片的写入数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次向第七行和第八行的NAND FLASH芯片的写入数据;

所述获取所述NAND FLASH芯片阵列的坏块表,包括:

依次读取第一至第八列第一、第二行和第三、第四行LUN1中的坏块,并做或运算得到坏块表1-8;

依次读取第一至第八列第五、第六行和第七、第八行LUN1中的坏块,并做或运算得到坏块表9-16;

依次读取第一至第八列第一、第二行和第三、第四行LUN2中的坏块,并做或运算得到坏块表17-24;

依次读取第一至第八列第五、第六行和第七、第八行LUN1中的坏块,并做或运算得到坏块表25-32;

通过将读取的4096数据作与运算,如果结果为x’00’,判断此块为坏块。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述高速大容量还包括:

CE#、CLE、W/R、ALE和WE#控制线。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次从第一行和第二行的NAND FLASH芯片的读取数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次从第三行和第四行的NAND FLASH芯片的读取数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次从第五行和第六行的NAND FLASH芯片的读取数据;

利用共用数据线由第一至第八列顺序依次从第七行和第八行的NAND FLASH芯片的读取数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:利用共用数据线对第一行和第二行的所有NAND FLASH芯片的数据进行擦除;

利用共用数据线对第三行和第四行的所有NAND FLASH芯片的数据进行擦除;

利用共用数据线对第五行和第六行的所有NAND FLASH芯片的数据进行擦除;

利用共用数据线对第七行和第八行的所有NAND FLASH芯片的数据进行擦除。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

在每块NAND FLASH芯片的数据擦除后,更新擦除地址。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

在所有NAND FLASH芯片的数据擦除完成后,将擦除完成标识位升高。

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