[发明专利]电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统

权利要求书

1.一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；

提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；

根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。

2.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：

所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。

3.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：

向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。

4.根据权利要求1-3任一权利要求所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：

通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。

5.根据权利要求4所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：

根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：

根据所述第一电压波形曲线和所述第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则所述射频芯片对所述电源芯片不存在干扰；否则所述射频芯片对所述电源芯片存在干扰。

6.根据权利要求5所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：

所述第一预设电压根据与所述电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。

7.一种实施权利要求1-6中任一权利要求所述的电源芯片的抗干扰性测试方法的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于，包括：

测量电路，用于向电源芯片提供一电压稳定的电源，使所述电源芯片在所述电源下正常工作；

射频模块，所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片提供射频信号源；以及

示波器，与所述电源芯片连接，用于测量所述电源芯片正常工作时的第一电压波形曲线和所述射频模块靠近所述电源芯片过程中的第二电压波形曲线。

8.根据权利要求7所述的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于：

所述测量电路包括：电源芯片测试板以及外接电源，所述电源芯片安装在所述电源芯片测试板上，所述外接电源与所述电源芯片测试板连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。

9.根据权利要求7所述的电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于：

所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。