[发明专利]电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统

说明书

本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统，通过向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性，本发明测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。

技术领域

本发明属于电池技术领域，具体涉及一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。

背景技术

对通信行业来说，电源芯片经常会影响到射频的正常工作，同样，射频在工作时也会影响到电源芯片的正常工作。而电源芯片的不稳定性会直接导致整个系统无法正常工作，因此在选择电源芯片的时候需要格外注意，尤其要考虑是否会受到射频天线的影响，导致输出电压不稳的情况发生。

发明内容

本发明是为了解决上述问题而进行的，目的在于提供一种测试方法简单、能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本的电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。

本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；

提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；

根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。

进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。

进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。

进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。

进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：

根据所述第一电压波形曲线和所述第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则所述射频芯片对所述电源芯片不存在干扰；否则所述射频芯片对所述电源芯片存在干扰。

进一步，在本发明提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述第一预设电压根据与所述电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。

本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于，包括：测量电路，用于向电源芯片提供一电压稳定的电源，使所述电源芯片在所述电源下正常工作；

射频模块，所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片提供射频信号源；以及

示波器，与所述电源芯片连接，用于测量所述电源芯片正常工作时的第一电压波形曲线和所述射频模块靠近所述电源芯片过程中的第二电压波形曲线。