[发明专利]磁存储装置在审
申请号: | 201910728500.X | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN111724839A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 古桥弘亘 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16;H01L43/08;H01L27/22 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 李智;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 装置 | ||
1.一种磁存储装置,
具备包括串联连接的磁阻效应元件以及开关元件的存储单元,
所述磁阻效应元件构成为,
根据在所述存储单元内沿第1方向流动电流的第1写入动作,从第1电阻状态变为比所述第1电阻状态低的第2电阻状态,
根据在所述存储单元内沿与所述第1方向相反的第2方向流动电流的第2写入动作,从所述第2电阻状态变为所述第1电阻状态,
所述开关元件,
具有与所述第1方向关联的第1保持电压,
具有与所述第2方向关联且比所述第1保持电压低的第2保持电压。
2.根据权利要求1所述的磁存储装置,
所述开关元件包括:
第1电极件;
包含与所述第1电极件不同的物质的第2电极件;以及
所述第1电极件与所述第2电极件之间的开关件。
3.根据权利要求1所述的磁存储装置,
在所述第1写入动作中施加于所述存储单元的第1写入电压的大小与在所述第2写入动作中施加于所述存储单元的第2写入电压的大小相等。
4.根据权利要求2所述的磁存储装置,
所述第1电极件以及所述第2电极件包含从碳即C、氮化碳即CN、氮化钨即WN以及氮化钛即TiN中选择的至少一种物质。
5.根据权利要求1所述的磁存储装置,
所述开关元件具有:
与所述第1方向关联的第1阈值电压;和
与所述第2方向关联的第2阈值电压。
6.根据权利要求5所述的磁存储装置,
所述第1阈值电压与所述第2阈值电压相等。
7.根据权利要求5所述的磁存储装置,
所述第1阈值电压与所述第2阈值电压相互不同。
8.根据权利要求5所述的磁存储装置,
所述第1阈值电压比在所述第1写入动作中施加于所述存储单元的第1写入电压的一半大,
所述第2阈值电压比在所述第2写入动作中施加于所述存储单元的第2写入电压的一半大。
9.根据权利要求2所述的磁存储装置,
所述开关件包含从碲即Te、硒即Se以及硫即S中选择的至少一种硫属元素。
10.根据权利要求9所述的磁存储装置,
所述开关件还包含从硼即B、铝即Al、镓即Ga、铟即In、碳即C、硅即Si、锗即Ge、锡即Sn、砷即As、磷即P、锑即Sb、钛即Ti以及铋即Bi中选择的至少一种元素。
11.根据权利要求1所述的磁存储装置,
所述磁阻效应元件包括:
第1铁磁性体;
第2铁磁性体;以及
所述第1铁磁性体与所述第2铁磁性体之间的非磁性体。
12.根据权利要求1所述的磁存储装置,
所述开关元件是两端子间开关元件。
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