[发明专利]一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统

权利要求书

1.一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述消息队列设置有最长保持时间和最大读取次数，并配置：

在消息队列中，数据存储的时间达到最长保持时间时被删除；

在消息队列中，数据被读取的次数达到最大读取次数时被删除。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述消息队列保持在线状态，即能实时响应并实现测试设备的测试流数据写入请求，以及能实时响应并实现数据库的数据读取请求。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述数据库处于在线状态或者离线状态。

5.根据权利要求4所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述数据库处于在线状态时，每隔预设的时间间隔向消息队列发送数据读取请求。

6.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括数据库和至少一组测试装置；

所述测试装置包括测试芯片和测试设备，所述测试设备包括函数发生器、开关矩阵模块和若干源测量单元，测试设备通过探针卡与测试芯片连接形成测试通路，测试生成测试流数据；

所述数据库采用权利要求1至5任意一项所述的数据库管理系统，用于存储测试流数据。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试系统，其特征在于，还包括至少一个在线分析引擎，在线分析引擎能抽取测试设备生成的测试流数据进行分析，并将分析后的测试流数据存储到数据库。

8.一种集成电路测试数据的实时存储方法，其特征在于，基于采用权利要求1至5任意一项所述数据库管理系统的数据库实现；所述集成电路测试数据的实时存储方法具体包括下述步骤：

步骤（1）：消息队列实时响应测试设备的测试流数据写入请求，并暂存测试流数据；

步骤（2）：消息队列接收数据库发来的数据读取请求并响应，且当此时消息队列中有新数据时，将新数据全部发送给数据库，实现测试流数据批量按列存入数据库；在消息队列中，这些发送数据的读取次数加1，然后判断这些发送数据的读取次数是否达到预设的最大读取次数，将达到最大读取次数的数据从消息队列中删除；

所述新数据是指消息队列中读取次数为0的数据。

9.根据权利要求8所述的一种集成电路测试数据的实时存储方法，其特征在于，所述步骤（1）中，消息队列实时暂存测试流数据，当消息队列中有数据的暂存时间达到预设的最长时间阈值时，则删除该数据。

10.根据权利要求8所述的一种集成电路测试数据的实时存储方法，其特征在于，所述步骤（2）中，当数据库处于在线状态时：数据库每隔预设的时间间隔向消息队列发送数据读取请求；当数据库处于离线状态时，无法向消息队列发送数据读取请求，直至恢复到在线状态的工作模式。