[发明专利]一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统

说明书

本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明的解决方案是：提供一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。

技术领域

本发明是关于半导体设计和生产领域，特别涉及一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统。

背景技术

随着集成电路的设计规模不断扩大，单一芯片上的电子器件密度越来越大，而电子器件的特征尺寸越来越小。同时，集成电路工艺流程包含着很多复杂的工艺步骤，每一步都存在特定的工艺制造偏差，导致了集成电路芯片的成品率降低。在可制造性设计的背景下，为了提高集成电路产品的成品率，缩短成品率成熟周期，业界普遍采用基于特殊设计的测试芯片的测试方法，通过对测试芯片的测试来获取制造工艺和设计成品率改善所必需的数据。

但是随着芯片的集成度越来越高，在制造过程中产生的测试数据，也在飞速增长。以高密度测试芯片为例，约包含100万个器件，目前可在25秒内完成测试，即每秒可测40000个器件；如果连续测试24小时，将能完成约35亿个器件的测试，获得的原始测试数据可达9GB。因此，需要建立一个专门的数据库，来实现测试数据的实时高效存储，以及快速响应数据查询。

数据库管理系统（DBMS，Database Management System）是数据库系统的核心，用于建立、使用和维护数据库，对数据库进行统一的管理和控制。关系型DBMS是基于二维表格模型的数据库管理系统，数据以二维行列表形式存储在数据库中，可参考图1。

关系型DBMS包括面向行的DBMS和面向列的DBMS。面向行的DBMS，数据按行存储在数据库中，能高效添加数据，特别是在数据的实时存储上具有优势；但是，面向行的DBMS在查询数据时显得低效且缓慢，当行数和列数增加时，查询会越来越慢。面向列的DBMS，数据按列存储在数据库中，数据压缩友好，而且在整个二维表上执行集合范围操作时具有优势，可以更精确且快速地响应数据查询。但是，面向列的DBMS在数据添加上效率不高，特别是实时数据的添加；如图2所示，有8条数据要添加到数据库，每一条数据都必须等待数据库的响应，然后下一条数据才能被处理，在数据库很忙无法立即响应的时候，实时流数据可能会丢失（测试由时钟信号严格控制，实时产生测试数据），进而影响集成电路的测试。

本发明采用面向列的数据库管理系统，并提供了解决面向列的数据库管理系统实时流数据无法高效添加问题的技术方案。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明的解决方案是：

提供一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。

作为进一步的改进，所述消息队列设置有最长保持时间和最大读取次数，并配置：在消息队列中，数据存储的时间达到最长保持时间时被删除；在消息队列中，数据被读取的次数达到最大读取次数时被删除。

作为进一步的改进，所述消息队列保持在线状态，即能实时响应并实现测试设备的测试流数据写入请求，以及能实时响应并实现数据库的数据读取请求。

作为进一步的改进，所述数据库处于在线状态或者离线状态。