[发明专利]一种非接触式静电检测器校准装置及校准方法在审
申请号: | 201910730011.8 | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN110308413A | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 孙卫星;杨庆瑞;李鹏 | 申请(专利权)人: | 上海安平静电科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校准 静电检测器 非接触式 校准装置 绝缘固定件 电极 测试臂 支撑架 计量技术领域 电极连接 电极水平 电压校准 仪器仪表 静电荷 零电位 测试 积累 | ||
本发明涉及仪器仪表的测试与计量技术领域,公开了一种非接触式静电检测器校准装置及校准方法。非接触式静电检测器校准装置包括支撑架、平板校准电极和测试臂;平板校准电极水平放置,且平板校准电极的一侧设有多个绝缘固定件,绝缘固定件的一端与平板校准电极连接,另一端与支撑架连接;测试臂上设有用于安装非接触式静电检测器的安装部,且安装部置于平板校准电极上方的中心位置。本发明提供的非接触式静电检测器校准装置及校准方法,在对非接触式静电检测器进行电压校准或零电位校准时,绝缘固定件上积累的静电荷不会对校准产生影响,提高了非接触式静电检测器校准的准确性。
技术领域
本发明涉及仪器仪表的测试与计量技术领域,尤其涉及一种非接触式静电检测器校准装置及校准方法。
背景技术
在静电防护测量和静电研究中广泛使用静电电压表,有接触式和非接触式两种类型,其中非接触式静电电压表是常用的一种。它在不与被测表面接触的情况下,利用电场感应原理或其它原理,测量出被测表面的电压和电场数值。非接触式静电检测器的测量值是否准确可靠,需要用校准装置进行校准。
现有技术中,校准装置的绝缘支架包裹了平板校准电极,而非置于平板校准电极的一侧,并使平板校准电极完全覆盖住绝缘固定件,该结构会对静电检测器进行了较高静电压值的校准测试后,再对静电检测器进行零电位校准,将会导致静电检测器检测出几十至几百伏的静电压,发生此种现象的原因如下:
1、金属平板校准电极因加工工艺的限制,表面不可避免的会出现微小的尖端结构,这些微小的尖端结构在高电压下会产生电晕放电,产生正负空气离子,部分空气离子吸附在平板校准电极附近的高绝缘部件表面,无法移动到大地,进而对外部形成静电荷场,产生可测量到的静电压。当高静电位校准持续时间越长,高绝缘部件表面积累的静电荷越多,再次进行零电位校准时的背景静电压值就越大。
2、当对金属平板校准电极施加高静电压,使平板校准电极附近出现一强静电场,而周围空间环境会自然存在有极少量的正负空气离子,这些离子会在强静电场作用下,撞击周围空气分子,产生碰撞电离,逐步产生出越来越多的空气离子,这些空气离子附着在高绝缘部件表面,无法移动到大地,进而对外部形成静电荷场,产生可测量到的静电压。
3、当对金属平板校准电极施加高静电压,使平板校准电极附近出现一强静电场,而因加工工艺的限制,固定平板标准电极的高绝缘部件的表面不可避免的会出现微小的尖端结构,在这些微小的尖端部极容易造成电场集中,而积累静电荷。
由以上原因而引起的现象极易导致校准人员在高绝缘部件表面还存在静电荷的情况下,对静电检测器进行误清零操作,从而造成静电检测值误差变大,并在无静电荷环境中显示出静电压值,对静电检测器的使用造成极大的干扰。
发明内容
本发明的目的在于提供一种非接触式静电检测器校准装置及校准方法,在对非接触式静电检测器进行电压校准或零电位校准时,绝缘固定件上积累的静电荷不会对校准产生影响,提高了非接触式静电检测器校准的准确性。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
一种非接触式静电检测器校准装置,包括:
支撑架;
平板校准电极,所述平板校准电极水平放置,且所述平板校准电极的一侧设有多个绝缘固定件,所述绝缘固定件的一端与所述平板校准电极连接,另一端与所述支撑架连接;
测试臂,所述测试臂上设有用于安装非接触式静电检测器的安装部,且所述安装部置于所述平板校准电极上方的中心位置。
优选地,所述支撑架包括方形框架及沿所述方形框架的对角设置的第一支架和第二支架,所述支撑架连接有地线。
优选地,所述平板校准电极的一侧设有五个所述绝缘固定件;
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