[发明专利]一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法有效
申请号: | 201910738753.5 | 申请日: | 2019-08-12 |
公开(公告)号: | CN110320465B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 黄晓波 | 申请(专利权)人: | 安徽龙芯微科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 243000 安徽省马*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 成品 芯片 测试 高压 加速 老化试验 及其 使用方法 | ||
本发明公开了一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法,该试验机包括上机体,所述上机体的前表面活动安装有压力门,所述压力门的后表面固定安装有两个竖直方向放置的密封圈,所述上机体的上表面中部固定安装有压力阀,所述上机体的底端内壁固定安装有支撑架,所述支撑架的上端固定安装有柱体形状的压力箱,所述压力箱的圆弧侧面与密封圈一一对应的位置开设有圆孔,所述压力箱的圆弧内壁与圆孔相对齐的位置固定安装有夹持机构。本发明中,通过设置的夹持机构,方便操作人员夹持待测试的芯片,可根据芯片的大小来调节夹持机构的夹持宽度,通过设置的压力阀,能够精准控制气压的排放,提高操作过程中的安全性。
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法。
背景技术
芯片是一组共同工作的集成电路“芯片”,并作为一个产品销售。它负责将计算机的核心——微处理器和机器的其他部分相连接,是决定主板级别的重要部件;生产的出来的芯片需要对其进行质量检测,测试芯片各个方面的性能,测试压力性能一般使用的是高压加速老化试验机。
高压加速老化试验机适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、I C、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性;但是现有的高压加速老化试验机,不方便操作人员夹持待测试的芯片,无法固定不同大小的芯片,还无法精确的控制气压的排放。
发明内容
为了克服上述的技术问题,本发明的目的在于提供一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法,通过设置的夹持机构,方便操作人员夹持待测试的芯片,可根据芯片的大小来调节夹持机构的夹持宽度,通过设置的压力阀,能够精准控制气压的排放,提高操作过程中的安全性。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:
一种成品芯片测试用高压加速老化试验机,包括上机体,所述上机体的前表面活动安装有压力门,所述压力门的后表面固定安装有两个竖直方向放置的密封圈,所述上机体的上表面中部固定安装有压力阀,所述上机体的底端内壁固定安装有支撑架,所述支撑架的上端固定安装有柱体形状的压力箱,所述压力箱的圆弧侧面与密封圈一一对应的位置开设有圆孔,所述压力箱的圆弧内壁与圆孔相对齐的位置固定安装有夹持机构;
所述压力阀包括阀体,所述阀体的内部螺接有阀杆,所述阀杆远离阀体的一端固定安装有手轮,所述阀体的圆弧侧面靠近后端的位置开设有通孔,所述阀体的圆弧侧面靠近前端的上下位置均开设有出气口,所述阀杆的圆弧侧面靠近固定安装有与阀体螺接的阀杆螺母,所述阀杆的圆弧侧面靠近阀杆螺母的一侧固定安装有填料压帽,所述阀杆的圆弧侧面靠近另一端的位置固定安装有阀瓣紧丝圈,所述阀杆的圆弧侧面活动安装有与阀瓣紧丝圈螺接的阀瓣座,所述阀瓣座圆弧侧面的四分之一为开口,所述阀杆的另一端固定安装有与阀瓣座契合的阀瓣,所述阀瓣座的圆弧侧面固定安装有与阀体内壁连接的阀套,所述阀套的一侧表面固定安装有密封环,所述阀体的前端固定安装有盲板;
所述夹持机构包括支板,所述支板的上表面中部开设有滑轨,所述支板的上表面靠近后端的位置固定安装有杆座,所述杆座的后表面固定安装有电动缸,所述电动缸的输出轴固定安装有贯穿杆座的丝杆,所述丝杆远离电动缸的一端固定安装有与滑轨契合的导向板,所述导向板的左右侧面均固定安装有齿条,所述支板的上表面位于导向板的两侧均轴接有齿轮,所述齿轮的上表面转动安装有第一连接板,所述导向板的上表面靠近齿轮的前方转动安装有第二连接板,所述导向板的左右两侧通过第一连接板与第二连接板均活动安装有支撑臂,所述支撑臂的下表面固定安装有夹杆。
进一步在于:所述上机体的下表面固定安装有下机体,所述下机体的底端内壁固定安装有水箱,所述水箱的内壁固定安装有加热器,所述水箱的上表面连通有进水管。
进一步在于:所述下机体的底端内壁固定安装有与水箱连通的水泵,所述水泵的上端固定安装有输送管。
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