[发明专利]一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置

权利要求书

1.一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于：包括工作台(1)，所述工作台(1)为箱式结构，且在工作台(1)的内部设置有控制箱(103)，所述工作台(1)的台面一侧设置有液晶显示屏(108)和声光报警器(109)，且在工作台(1)的台面中间位置固定架设有测试箱(3)，所述测试箱(3)的左右两侧均开设有供载物板(204)穿过的矩形通道(310)；

所述工作台(1)外部右侧面上通过电机安装座设置有转动电机(2)，所述转动电机(2)的输出端连接减速器的输入端，减速器的输出端固定连接有螺杆(208)，所述螺杆(208)水平架设在工作台(1)的箱体内部，且螺杆(208)的另一端转动连接在所述工作台(1)内部另一侧面的转动轴承上，所述螺杆(208)上通过螺纹连接有螺母座(210)，所述螺母座(210)的表面上通过焊接竖直设置有连接板(209)，所述工作台(1)的台面在水平方向开设有供连接板(209)穿过的条形槽(203)，所述条形槽(203)两侧的工作台(1)的台面沿水平方向分别设置有导向板一(201)和导向板二(202)，所述导向板一(201)与导向板二(202)关于条形槽(203)在水平方向上的轴线对称，且在导向板一(201)与导向板二(202)相对的侧面沿水平方向均开设有T型槽(211)，所述连接板(209)贯穿条形槽(203)的顶部与载物板(204)的底面焊接连接，所述载物板(204)纵向两侧的侧面上设置有与导向板一(201)和导向板二(202)T型槽(211)相适配的T型块(212)，所述载物板(204)通过两侧的T型块(212)滑动连接在导向板一(201)和导向板二(202)的T型槽(211)内，所述载物板(204)的表面等分隔成四个区域，且在载物板(204)的每个独立区域内均设置有芯片放置盘(205)，所述芯片放置盘(205)上设置有芯片；

所述测试箱(3)包括X向导轨(301)、Y向导轨(302)和Z向导轨(303)，所述X向导轨(301)通过X向驱动机构进行驱动，且在X向导轨(301)上滑动连接有X向固定块(309)，所述X向固定块(309)在横向上固定设置有Y向导轨(302)，所述Y向导轨(302)通过Y向驱动机构进行驱动，且在Y向导轨(302)上滑动连接有Y向固定块(304)，所述Y向固定块(304)在纵向上竖直设置有Z向导轨(303)，所述Z向导轨(303)通过Z向驱动机构进行驱动，所述Z向导轨(303)上滑动连接有竖直板(305)，所述竖直板(305)底面一侧焊接设置有固定板(306)，所述固定板(306)的板面在竖直方向上开设有若干个螺纹通孔，所述固定板(306)上的螺纹通孔经锁紧螺钉固定连接有呈十字结构的十字测试板(307)，且在十字测试板(307)四个边角的底面上分别设置有检测探针(308)。

2.根据权利要求1所述的一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于，所述十字测试板(307)的板面上也开设有若干个与固定板(306)螺纹孔相适配的螺纹通孔，且十字测试板(307)四个边角上的检测探针(308)高度完全一致，且十字测试板(307)的位于同一侧边角上的检测探针(308)在水平方向上重合。

3.根据权利要求1所述的一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于，所述X向导轨(301)水平设置在测试箱(3)内部底面的一侧，且在测试箱(3)的内部远离X向导轨(301)的一侧板面上设置有支撑板(312)，所述支撑板(312)与X向导轨(301)在水平方向上平行，且支撑板(312)的板面在水平方向上开设有供Y型导轨(302)滑动的滑槽，所述Y向导轨(302)通过端面的滑块滑动连接在支撑板(312)的滑槽内。

4.根据权利要求1所述的一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于，所述测试箱(3)的正面为透明玻璃窗(311)结构。

5.根据权利要求1所述的一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于，所述连接板(209)位于螺母座(210)表面水平方向的轴线上，且连接板(209)的长度与载物板(204)的长度一致，所述连接板(209)的另一端也位于载物板(204)底面水平方向的轴线上。