[发明专利]一种加固内存卡的电压检测与校正电路及方法

权利要求书

1.一种加固内存卡的电压检测与校正电路，包括：位于加固内存卡上的至少一个电压采样电路、位于主板上的至少一个内存卡连接器和位于主板上的电源控制电路，所述电压采样电路通过所述内存卡连接器与所述电源控制电路连接；

所述电压采样电路，用于采集所述加固内存卡上的供电电压，得到电压采样信号；

所述内存卡连接器，用于将所述电压采样信号传输到所述电源控制电路；

所述电源控制电路，用于根据电压采样信号和预设电压值校正输出至所述加固内存卡的供电电压。

2.根据权利要求1所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述电压采样电路包括正极采样点和负极采样点，所述正极采样点和负极采样点分别设置在内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端附近，所述正极采样点和所述负极采样点一端分别与所述供电正极输入端和所述供电负极输入端相连接，另一端与所述内存卡连接器连接。

3.根据权利要求2所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述正极采样点和所述负极采样点与所述内存卡连接器采用差分布线连接。

4.根据权利要求1所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述内存卡连接器与所述电源控制电路连接采用差分布线连接。

5.根据权利要求1所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述正极采样点和所述负极采样点为至少为2对，在所述正极采样点和所述负极采样点与内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端之间设置0欧姆电阻或跳线，所述正极采样点和所述负极采样点与内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端通过0欧姆电阻或跳线连接，通过设置0欧姆电阻或跳线安装与否，选择不同的电压采样位置。

6.根据权利要求1所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述内存卡连接器至少为2个，每个所述内存卡连接器与所述电源控制电路通过0欧姆电阻或跳线连接。

7.根据权利要求1所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路，其特征在于，所述电源控制电路包括电源控制器、与所述电源控制器相连的电源控制器供电电路和与所述电源控制器相连的电压采样信号接收电路；

所述电压采样信号接收电路用于接收电压采样信号，所述电源控制器用于根据所述电压采样信号和预设电压值校正输出供电电压；所述电源控制器供电电路用于向所述电源控制器供电。

8.一种加固内存卡的电压检测与校正方法，其特征在于，采用权利要求1至7任一项所述的一种加固内存卡的电压检测与校正电路实现，其特征在于，包括如下步骤：

采集所述加固内存卡上的供电电压，得到电压采样信号；

将所述电压采样信号传输到所述电源控制电路；

根据电压采样信号和预设电压值校正输出至所述加固内存卡的供电电压。

9.根据权利要求8所述的一种加固内存卡的电压检测与校正方法，其特征在于，所述采集所述加固内存卡上的供电电压，得到电压采样信号前，还包括：

对所述加固内存上的所述供电电压的采样位置进行选择。

10.根据权利要求8所述的一种加固内存卡的电压检测与校正方法，其特征在于，所述通过内存卡连接器将所述电压采样信号传输到所述电源控制电路时，还包括：对所述传输过程进行抗干扰处理。