[发明专利]一种加固内存卡的电压检测与校正电路及方法

说明书

本发明涉及一种加固内存卡的电压检测与校正电路，包括：位于加固内存卡上的至少一个电压采样电路、位于主板上的至少一个内存卡连接器和位于主板上的电源控制电路，电压采样电路通过内存卡连接器与电源控制电路连接；电压采样电路，用于采集加固内存卡上的供电电压，得到电压采样信号；内存卡连接器，用于将电压采样信号传输到电源控制电路；电源控制电路，用于根据电压采样信号校正输出至加固内存卡的供电电压。本发明通过检测加固内存卡上的供电电压信号的变化，而校正主板电源输出，从而起到稳定加固内存卡上的供电电压的作用，从而避免了电压不稳定导致的内存识别和稳定性问题。本发明还涉及一种加固内存卡的电压检测与校正方法。

技术领域

本发明属于电压检测与校正领域，具体涉及一种加固内存卡的电压检测与校正电路及方法。

背景技术

为满足高性能服务器对大容量内存卡的需求，内存卡通常采用加固设计，以避免内存卡上内存颗粒增多而导致的连接松动和稳定性问题。因承载内存颗粒较多，加固内存卡体积增大，加之主板连接件影响，导致加固内存卡电压降低，影响内存的识别和稳定性。加固内存卡的示意图如图1所示，内存颗粒安装在加固内存卡上，随着加固内存卡体积的增大，受传输电阻影响，远离加固内存卡连接端的内存颗粒的供电电压将降低，影响内存运行的稳定性。

发明内容

本发明为了解决上述背景技术中的技术问题，提供一种加固内存卡的电压检测与校正电路及方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种加固内存卡的电压检测与校正电路，包括：位于加固内存卡上的至少一个电压采样电路、位于主板上的至少一个内存卡连接器和位于主板上的电源控制电路，所述电压采样电路通过所述内存卡连接器与所述电源控制电路连接；所述电压采样电路，用于采集所述加固内存卡上的供电电压，得到电压采样信号；所述内存卡连接器，用于将所述电压采样信号传输到所述电源控制电路；所述电源控制电路，用于根据电压采样信号和预设电压值校正输出至所述加固内存卡的供电电压。

本发明的有益效果是：通过采集在加固内存卡上的供电电压，并将加固内存卡上的供电电压信号传输给主板上电源控制电路，电源控制电路通过检测加固内存卡上的供电电压信号的变化，而校正主板电源输出，从而起到稳定加固内存卡上的供电电压的作用，从而避免了电压不稳定导致的内存识别和稳定性问题。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，所述电压采样电路包括正极采样点和负极采样点，所述正极采样点和负极采样点分别设置在内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端附近，所述正极采样点和所述负极采样点一端分别与所述供电正极输入端和所述供电负极输入端相连接，另一端与所述内存卡连接器连接。

进一步，所述正极采样点和所述负极采样点与所述内存卡连接器采用差分布线连接。

进一步，所述内存卡连接器与所述电源控制电路连接采用差分布线连接。

进一步，所述正极采样点和所述负极采样点为至少为2对，在所述正极采样点和所述负极采样点与内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端之间设置0欧姆电阻或跳线，所述正极采样点和所述负极采样点与内存颗粒的供电正极输入端和供电负极输入端通过0欧姆电阻或跳线连接，通过设置0欧姆电阻或跳线安装与否，选择不同的电压采样位置。

进一步，所述内存卡连接器至少为2个，每个所述内存卡连接器与所述电源控制电路通过0欧姆电阻或跳线连接。

进一步，所述电源控制电路包括电源控制器、与所述电源控制器相连的电源控制器供电电路和与所述电源控制器相连的电压采样信号接收电路；所述电压采样信号接收电路用于接收电压采样信号，所述电源控制器用于根据所述电压采样信号和预设电压值校正输出供电电压；所述电源控制器供电电路用于向所述电源控制器供电。