[发明专利]一种再流焊冷却阶段下应力的焊点结构参数的优化方法在审
申请号: | 201910743601.4 | 申请日: | 2019-08-13 |
公开(公告)号: | CN110532651A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 黄春跃;唐香琼;赵胜军;付玉祥;高超 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06N3/00 |
代理公司: | 11429 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人: | 石燕妮<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 焊点 冷却阶段 减小 收敛 搜索 人工蜂群算法 服役可靠性 全局最优解 种群多样性 参数优化 测量系统 焊点结构 后冷却 响应面 最优解 全局 | ||
本发明提供了一种焊点再流焊焊后冷却应力的测量系统及方法中,结合响应面和人工蜂群算法减小再流焊冷却阶段下的焊点内的应力,具有很高的收敛可靠性和较高的收敛速度,能够较快地搜索到全局的最优解,极大的方便了后期焊点结构参数优化设计,在保持种群多样性及搜索全局最优解方面具有明显优势,且ANSYS应力值有所降低。实现了减小再流焊冷却阶段下的焊点内应力的目标,进而提高了焊点再流焊后服役可靠性。
技术领域
本发明涉及电子元器件
背景技术
BGA(Ball GridArray)封装器件具有体积小、高密度、高性能和信号延迟少等优点而被广泛用于各种电子产品中。焊点在BGA封装中起着电气连接、机械支撑及散热等作用,是封装结构中最为薄弱的环节。BGA器件在再流焊焊接过程中,由于BGA器件封装体和印制电路板(PCB)热膨胀系数不匹配,在焊接过程中引起形变进而产生的应力基本由焊点承担,因此相比具有柔性引脚的插接器件,BGA焊点的可靠性明显低于插接器件。针对焊点在再流焊过程中应力变化和再流焊工艺对焊点焊接质量的影响,国内外学者展开了相关研究。在国内,对板级组件再流焊接进行了研究,通过板级组件的结构和材料性能灵活地调整峰值温度与再流时间以优化再流焊曲线,提高焊点的焊接质量从而实现提高板级组件的可靠性;研究表明在再流焊过程中在焊点凝固前强制制冷能有效提高焊点质量;通过建立PBGA焊点二维模型进行再流焊冷却阶段加载仿真,分析了焊点材料(SAC387)在再流焊冷却阶段的力学行为,得出了焊点在冷却结晶后等效应力随温度的降低快速增加、焊点温度降至室温时等效应力为最大之后逐步降低的结论。在国外,研究表明再流焊冷却阶段焊点的冷却速率越低,焊点在低应力或循环应力条件下工作越容易出现缺陷;通过优化再流焊接过程峰值温度和冷却速率等因素以实现降低BGA焊点在焊接过程的缺陷率;研究表明BGA组件经过多次再流焊后,焊点的剪切强度降低从而加快了焊点的失效。
响应面法是数学方法和数理统计结合的产物,是一种用近似的函数关系式表示变量与目标的拟合设计方法。该方法首先利用中心复、Box-Behnke设计、均匀等实验设计、均匀等实验方法建立因素的若干实验组合,分别对各进行获得相应目标值然后选择方法建立因素的若干实验组合,然后选择合适的数学模型对因素与目标结果表示,再运用最小二乘原理求得中未知系数,最后得到变量与结果的拟合函数表达式。RSM能通过较少的实验次数在一定范围内比较精确地逼近因素与目标值之间的函数关系,并用简单表达式展现出来,而且通过对回归模型的选择在一定范围内可以拟复杂响应关系,具有优良鲁棒性能,计算较为简单,为后期参数优化设计带来极大方便。
人工蜂群算法,是一种基于群智能的全局优化算法,属于群智能算法的一种,具有很高的收敛可靠性和较高的收敛速度,能够较快地搜索到全局的最优解,极大的方便了后期板级组件BGA焊点结构参数优化设计。
发明内容
本发明的目的在于提供一种再流焊冷却阶段下应力的焊点结构参数的优化方法,能够响应面和人工蜂群算法减小再流焊冷却阶段下的焊点内的应力,具有很高的收敛可靠性和较高的收敛速度。
为了达到上述目的,本发明提供了一种再流焊冷却阶段下应力的焊点结构参数的优化方法,包括:
基于ANSYS建立再流焊后焊点在冷却阶段下的仿真分析模型,并在所述仿真分析模型中施加冷却阶段的温度载荷,以获取焊点的应力值;
获取影响焊点应力值的影响因素以及影响因素的参数水平值;
在响应面下获取影响因素与应力值之间的函数关系,并利用多组实验样本对所述函数关系进行误差分析以确定所述函数关系是否正确;
当所述函数关系正确时利用人工蜂群算法对焊点结构参数优化。
可选的,所述仿真分析模型包括由上之下依次设置的芯片、焊点及PCB基板。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林电子科技大学,未经桂林电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910743601.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。