[发明专利]性能分析方法与系统、电子设备与存储介质

权利要求书

1.一种性能分析方法，其特征在于，包括：

获取目标程序的第一采样数据与第二采样数据，所述第一采样数据是通过所述目标程序中插入的探测代码采集得到的事件信息，所述第二采样数据是通过性能监控单元PMU采集得到的栈信息；

获取所述第一采样数据与所述第二采样数据之间的时间映射关系，所述时间映射关系用于关联所述事件信息与所述栈信息；

生成所述目标程序的性能图，所述性能图的纵轴表示事件所对应的栈信息，横轴表示栈对应的时间长度；

其中，所述获取所述第一采样数据与所述第二采样数据之间的时间映射关系，包括：

获取第一时间轴与第二时间轴之间的偏差时长，以作为所述时间映射关系；或者，

同步所述第一时间轴与所述第二时间轴，以作为所述时间映射关系；

其中，所述第一时间轴为所述第一采样数据所采用的时间轴；所述第二时间轴为所述第二采样数据所采用的时间轴。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述同步所述第一时间轴与所述第二时间轴，包括：

获取所述第一时间轴与所述第二时间轴之间的所述偏差时长；

利用所述偏差时长，调整所述第一时间轴或所述第二时间轴，使得所述第一时间轴与所述第二时间轴同步。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一时间轴与所述第二时间轴之间的所述偏差时长，包括：

获取预设的校准Tag在第一时间轴上的起始时刻；

在第二时间轴上，获取所述校准Tag对应的第一个采样点时刻；

获所述起始时刻与所述第一个采样点时刻之差，以作为所述偏差时长。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述生成所述目标程序的性能图，包括：

裁剪所述第二采样数据，得到裁剪后的第二采样数据；

根据所述裁剪后的第二采样数据，生成所述目标程序的所述性能图。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述裁剪所述第二采样数据，得到裁剪后的第二采样数据，包括：

获取所述第一采样数据中的目标事件；

根据所述时间映射关系，确定所述目标事件对应的目标栈；

裁剪出所述目标栈对应的第二采样数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一采样数据中的目标事件，包括：

获取目标事件标识；

在所述第一采样数据中，获取所述目标事件标识所指示的所述目标事件；

其中，所述目标事件标识包括：事件标签或所述目标事件所在的目标时间区间。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取目标事件标识，包括：

获取预设的裁剪配置信息中携带的所述目标事件标识；或者，

输出可操作面板，并采集用户在所述可操作面板上的操作信息，根据所述操作信息确定所述目标事件标识；或者，

将所述第一采样数据作为事件确定模型的输入，获取所述事件确定模型输出的所述目标事件标识。

8.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述目标程序为被测试程序。

9.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述目标程序包括：被测试程序与对照程序；

所述性能图为多维性能图，所述多维性能图包括：所述被测试程序的性能图与所述对照程序的性能图；

其中，所述对照程序的数目为至少一个。