[发明专利]雷达反射点的聚类装置、方法以及电子设备

权利要求书

1.一种雷达反射点的聚类装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，其基于从检测目标反射回的雷达回波信号获取雷达反射点信息；

第一聚类单元，其根据检测目标的特征确定第一聚类系数，并根据所述第一聚类系数对所述雷达反射点信息进行第一聚类；

判断单元，其判断所述第一聚类后形成的至少两类是否满足条件；

第二聚类单元，其在所述至少两类满足所述条件的情况下，将所述第一聚类系数调整为第二聚类系数，并根据所述第二聚类系数对所述雷达反射点信息进行第二聚类。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述雷达反射点信息包括空间维信息、速度维信息和强度维信息中的至少之一；

所述第一聚类系数和/或所述第二聚类系数包括空间权重系数、速度权重系数和强度权重系数中的至少之一；所述空间权重系数包括长度权重系数、宽度权重系数和高度权重系数中的至少之一。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述条件包括如下之一或任意组合：所述至少两类的间距是否小于第一阈值，所述至少两类的高度是否小于第二阈值，所述至少两类的雷达点数目之差是否大于第三阈值，所述至少两类的速度之差是否大于第四阈值，所述至少两类的信号强度之差是否大于第五阈值。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置还包括：

变换单元，其在所述至少两类满足所述条件的情况下，根据检测目标的特征对所述雷达反射点信息进行变换；

所述第二聚类单元还根据所述第二聚类系数以及变换后的雷达反射点信息对所述雷达反射点信息进行所述第二聚类。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述变换单元用于：根据所述至少两类的中心点计算所述中心点之间的角度；根据所述角度对所述雷达反射点信息进行空间维旋转以获得所述变换后的雷达反射点信息。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述至少两类的中心点为(x1_0，y1_0)和(x2_0，y2_0)，所述角度α＝(y2_0-y1_0)/(x2_0-x1_0)，所述雷达反射点信息为(x，y)；

若α0，所述变换后的雷达反射点信息(x_new，y_new)＝R(90-α)*(x，y)；

若α0，所述变换后的雷达反射点信息(x_new，y_new)＝R(|α|)*(x，y)；

其中，

7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述检测目标的特征包括如下至少之一：所述检测目标的形态特征、所述检测目标的运动特征、所述检测目标的反射特征。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，

所述检测目标的形态特征包括：长宽比例、长高比例、宽高比例或长宽高比例；

所述检测目标的运动特征包括：平移运动一致性、旋转运动一致性或运动相似性；

所述检测目标的反射特征包括：密度、材料、信号吸收或反射比例。

9.一种雷达反射点的聚类方法，其特征在于，所述方法包括：

基于从检测目标反射回的雷达回波信号获取雷达反射点信息；

根据检测目标的特征确定第一聚类系数，并根据所述第一聚类系数对所述雷达反射点信息进行第一聚类；

判断所述第一聚类后形成的至少两类是否满足条件；

在所述至少两类满足所述条件的情况下，将所述第一聚类系数调整为第二聚类系数，并根据所述第二聚类系数对所述雷达反射点信息进行第二聚类。

10.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器被配置为执行如下操作：基于从检测目标反射回的雷达回波信号获取雷达反射点信息；根据检测目标的特征确定第一聚类系数，并根据所述第一聚类系数对所述雷达反射点信息进行第一聚类；判断所述第一聚类后形成的至少两类是否满足条件；在所述至少两类满足所述条件的情况下，将所述第一聚类系数调整为第二聚类系数，并根据所述第二聚类系数对所述雷达反射点信息进行第二聚类。