[发明专利]一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置

权利要求书

1.一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，包括底座，所述底座的顶部为工作平台，其特征在于，在工作平台上设有校准棒检校机构和卡尺检校机构；所述校准棒检校机构包括设置在工作平台上的直轨道，在直轨道上滑动连接有干涉镜支架、左测量座、可调V型支架、四维工作台和右测量座，所述干涉镜支架位于左测量座的左侧，所述可调V型支架、四维工作台均位于左测量座和右测量座之间，在左测量座内浮动连接有左测微杆，在右测量座内设有右测微杆，在左测微杆的非测量端设有反射镜支座；

所述卡尺检校机构包括设置在工作平台上的反射镜支架、左卡尺支撑座和右卡尺支撑座，所述反射镜支架位于左卡尺支撑座的左侧，左卡尺支撑座和右卡尺支撑座分别用于夹持固定大量程通用卡尺的两端；

还包括激光干涉组件，所述激光干涉组件包括激光干涉仪支架、激光干涉仪、干涉镜和多个反射镜，所述干涉镜和反射镜均配有机械固定座或者磁力固定座；其中干涉镜安装在干涉镜支架上，反射镜支座、反射镜支架和大量程通用卡尺的活动爪上各固定一个反射镜。

2.根据权利要求1所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述可调V型支架包括滑动连接在直轨道上的滑动座，在滑动座上设有升降臂，在升降臂顶部一体成型设有V型分支臂，在V型分支臂设有滚轮或者缓冲弹性套。

3.根据权利要求1所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述四维工作台包括滑动连接在直轨道上的滑动座，在滑动座上设有四轴支撑工作平台。

4.根据权利要求1所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述直轨道为齿条形轨道，在左测量座和右测量座内均设有与齿条相啮合的齿轮或齿轮组，且在左测量座和右测量座上设有用于带动齿轮或齿轮组转动的手动转轮或者步进电机。

5.根据权利要求1至4任一项所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述卡尺检校机构包括与直轨道平行设置的辅助直轨道，所述左卡尺支撑座和右卡尺支撑座滑动连接在辅助直轨道上。

6.根据权利要求5所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述左卡尺支撑座和右卡尺支撑座通过螺栓或者磁力座固定在辅助直轨道上。

7.根据权利要求6所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述左卡尺支撑座和右卡尺支撑座的结构相同将两者统称为卡尺支撑座，所述卡尺支撑座包括固定座，在固定座上转动连接有调节螺母，在调节螺母内螺纹连接有竖直设置的调节柱，在调节柱顶端设有夹持工作台，在夹持工作台侧壁上固定有L型夹持臂，在L型夹持臂的横臂伸向升降工作台上方且上设有夹紧螺栓。

8.根据权利要求7所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，在夹紧螺栓的末端铰接有顶紧片。

9.根据权利要求7所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，夹持工作台与调节柱顶端之间设有沿前后方向设置的滑轨以实现夹持工作台沿前后方向的微调。

10.根据权利要求7所述的基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，其特征在于，所述干涉镜的机械固定座上设有用于穿过干涉镜支架支撑杆的穿孔，在机械固定座上配有紧固螺栓，所述紧固螺栓伸入穿孔内。