[发明专利]一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置

说明书

本发明公开了一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，属于长度测量量具的计量检定技术领域，包括底座，所述底座的顶部为工作平台，在工作平台上设有校准棒检校机构和卡尺检校机构和激光干涉组件；所述校准棒检校机构包括设置在工作平台上的直轨道，在直轨道上滑动连接有干涉镜支架、左测量座、可调V型支架、四维工作台和右测量座，在左测量座内浮动连接有左测微杆，在左测微杆的非测量端设有反射镜支座；本发明特别适合大量程通用卡尺、内径千分尺、校对棒的检定和校准；其中，干涉光路的调整只与待测工件移动部分的直线度有关，而对底座上直轨道的线性度要求不高，因此大大降低了底座本身的制作要求，降低了成本。

技术领域

本发明属于长度测量量具的计量检定技术领域，特别涉及一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置。

背景技术

在机械工业中比较常用的长度测量量具主要包括通用卡尺、内径千分尺，其广泛应用于制造业、安装业和科研院所等领域，生产企业或计量检定部门都需要按照国家检定规程要求对其进行周期检定、校准，针对小量程通用卡尺和内径千分尺的检定用量具或者检定仪已比较成熟能够满足检定要求。然而随着装备制造业的迅速发展，对大量程长度测量量具的要求不断增加，尤其是对大量程的通用卡尺、内径千分尺体现更为明显，最近几年河南省在500mm以上量程通用卡尺、1000mm以上量程内径千分尺、校对棒的送检数量逐年递增，这就对其检定、校准装置也提出了更高要求，需要一种更方便、更便捷、能够实现测量不确定度自动评价的综合检校装置。

目前对大量程长度测量量具示值误差的检定、校准主要是采用组合量块的方式进行。由于主尺比较长较重且跨度大，如按常规用量块作为标准器进行检定，操作相对比较困难，存在很多不确定度的分量，很难达到一定的检定准确度。中国专利公开号为CN108917515A，公开了一种用于大量程通用卡尺示值误差的续接检定方法，其通过辅助装置和标准量块的续接零点操作，能够对1000mm以上量程的通用卡尺示值标注的准确检定；还可以通过续接零点操作操作使标准量块组合使用，减少标准量块应用数量，从而部分解决了组合量块测量时产生的问题。其测量精度还不能够满足所有大量程长度测量量具的检定、校准要求，而且不能够满足大量程内径千分尺、校对棒测量时拐点的正确判断，通用性不高。

发明内容

本发明目的是为解决上述现有技术中存在的问题而提出了一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置；为达到上述目的所采取的技术方案是：

一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置，包括底座，所述底座的顶部为工作平台，在工作平台上设有校准棒检校机构和卡尺检校机构；所述校准棒检校机构包括设置在工作平台上的直轨道，在直轨道上滑动连接有干涉镜支架、左测量座、可调V型支架、四维工作台和右测量座，所述干涉镜支架位于左测量座的左侧，所述可调V型支架、四维工作台均位于左测量座和右测量座之间，在左测量座内浮动连接有左测微杆，在右测量座内设有右测微杆，在左测微杆的非测量端设有反射镜支座；

所述卡尺检校机构包括设置在工作平台上的反射镜支架、左卡尺支撑座和右卡尺支撑座，所述反射镜支架位于左卡尺支撑座的左侧，左卡尺支撑座和右卡尺支撑座分别用于夹持固定大量程通用卡尺的两端；

还包括激光干涉组件，所述激光干涉组件包括激光干涉仪支架、激光干涉仪、干涉镜和多个反射镜，所述干涉镜和反射镜均配有机械固定座或者磁力固定座；其中干涉镜安装在干涉镜支架上，反射镜支座、反射镜支架和大量程通用卡尺的活动爪上各固定一个反射镜。

优选的，所述可调V型支架包括滑动连接在直轨道上的滑动座，在滑动座上设有升降臂，在升降臂顶部一体成型设有V型分支臂，在V型分支臂设有滚轮或者缓冲弹性套。

优选的，所述四维工作台包括滑动连接在直轨道上的滑动座，在滑动座上设有四轴支撑工作平台。