[发明专利]噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质有效
申请号: | 201910765283.1 | 申请日: | 2019-08-19 |
公开(公告)号: | CN110441621B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 黄磊 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/26 | 分类号: | G01R29/26 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 噪声系数 测量方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种噪声系数的测量方法,其特征在于,包括:
确定各测量通道中配置的表面贴装噪声源的表贴超噪比;
确定目标测量通道,所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道,所述目标测量通道的数量为多个,所述待测器件的数量为多个;
获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比;
以所述表面贴装噪声源为信号源,基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数;
其中,所述确定各测量通道中配置的表面贴装噪声源的表贴超噪比,包括:
针对每个测量通道,采用标准噪声源作为信号源,测量所述测量通道中的接收模组的第二噪声系数;
采用所述测量通道中配置的表面贴装噪声源作为信号源,获取所述接收模组在所述表面贴装噪声源处于关闭状态时测量得到的第一噪声功率以及所述接收模组在所述表面贴装噪声源处于开启状态时测量得到的第二噪声功率;
根据所述第二噪声系数、所述第一噪声功率和所述第二噪声功率确定所述表面贴装噪声源的表贴超噪比。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用标准噪声源作为信号源,测量所述测量通道中的接收模组的第二噪声系数,包括:
获取所述测量通道中的接收模组在标准噪声源处于关闭状态时测量得到的第三噪声功率以及所述接收模组在所述标准噪声源处于开启状态时测量得到的第四噪声功率;
根据所述第三噪声功率、所述第四噪声功率以及所述标准噪声源的标准超噪比确定所述接收模组的第二噪声系数。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述以所述表面贴装噪声源为信号源,基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数,包括:
获取所述目标测量通道中的接收模组在表面贴装噪声源处于关闭状态时测量得到的第五噪声功率以及所述接收模组在所述表面贴装噪声源处于开启状态时测量得到的第六噪声功率;
根据所述目标表贴超噪比、所述第五噪声功率以及所述第六噪声功率计算所述待测器件的第一噪声系数。
4.一种噪声系数的测量装置,其特征在于,包括:
超噪比确定模块,用于确定各测量通道中配置的表面贴装噪声源的表贴超噪比;
通道确定模块,用于确定目标测量通道,所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道,所述目标测量通道的数量为多个,所述待测器件的数量为多个;
超噪比获取模块,用于获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比;
噪声系数确定模块,用于以所述表面贴装噪声源为信号源,基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数;
其中,所述超噪比确定模块包括:
噪声系数确定单元,用于针对每个测量通道,采用标准噪声源作为信号源,测量所述测量通道中的接收模组的第二噪声系数;
第一功率获取单元,用于采用所述测量通道中配置的表面贴装噪声源作为信号源,获取所述接收模组在所述表面贴装噪声源处于关闭状态时测量得到的第一噪声功率以及所述接收模组在所述表面贴装噪声源处于开启状态时测量得到的第二噪声功率;
超噪比确定单元,用于根据所述第二噪声系数、所述第一噪声功率和所述第二噪声功率确定所述表面贴装噪声源的表贴超噪比。
5.一种噪声系数测量设备,其特征在于,包括:
一个或多个处理器;
存储器,用于存储一个或多个程序;
至少两个测量通道,所述测量通道中设置有发射模组和接收模组,所述发射模组中设置有表面贴装噪声源,用于向待测器件发送噪声信号;所述接收模组用于接收所述发射模组发射的噪声信号,并确定所述噪声信号的噪声功率;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-3中任一所述的噪声系数的测量方法。
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