[发明专利]噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：确定目标测量通道，所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道；获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比；以所述表面贴装噪声源为信号源，基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数。本发明实施例通过采用上述技术方案，可以降低待测器件的测试成本，实现待测器件的大规模测试。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

随着移动通信技术的高速发展，对待测器件(Device Under Test，DUT)噪声系数的测量结果的准确性的要求也越来越高。

现有测量待测器件噪声系数的技术方案是将待测器件分别与噪声分析仪(或频谱分析仪)以及在频带内的超噪比已知的标准噪声源相连，采用Y因子法测量待测器件的噪声系数，如在校准过程中，通过噪声分析仪记录标准噪声源在开关两种状态下的噪声功率，在测量过程中，通过噪声分析仪记录标准噪声源开关两种状态下的总噪声功率，从而根据相关噪声算法计算出待测器件的噪声系数。但是，此种测量方法中需使用超噪比已知的标准噪声源和噪声分析仪，测试成本较高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质，以降低待测器件噪声系数的测试成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种噪声系数的测量方法，包括：

确定目标测量通道，所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道；

获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比；

以所述表面贴装噪声源为信号源，基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数。

第二方面，本发明实施例提供了一种噪声系数的测量装置，包括：

通道确定模块，用于确定目标测量通道，所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道；

超噪比获取模块，用于获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比；

噪声系数确定模块，用于以所述表面贴装噪声源为信号源，基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数。

第三方面，本发明实施例提供了一种噪声系数测量设备，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

至少两个测量通道，所述测量通道中设置有发射模组和接收模组，所述发射模组中设置有表面贴装噪声源，用于向待测器件发送噪声信号；所述接收模组用于接收所述发射模组发射的噪声信号，并确定所述噪声信号的噪声功率；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本发明实施例所述的噪声系数的测量方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明实施例所述的噪声系数的测量方法。

在上述测量噪声系数的技术方案中，确定待测器件所连接的目标测量通道，获取该目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比，并以表面贴装噪声源为信号源，基于该目标表贴超噪比确定该待测器件的第一噪声系数。本发明实施例通过采用上述技术方案，由于具有多个测量通道，并采用表面贴装噪声源作为信号源，可以降低待测器件的测试成本，实现待测器件的大规模测试。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：