[发明专利]一种半导体探针测试台用探针

权利要求书

1.一种半导体探针测试台用探针，包括套管(1)、针头(2)，针头(2)安装在套管(1)的底部，其特征在于：所述套管(1)的内部固定安装有定位块(4)，所述针头(2)的端部固定连接有位于套管(1)内部的滑动块(5)，所述定位块(4)与滑动块(5)之间安装有弹簧(6)，所述滑动块(5)上安装有磁块(7)，所述滑动块(5)的顶部固定连接有位于磁块(7)两侧的支撑杆(8)，所述支撑杆(8)的侧面固定连接有定位座(9)，所述定位座(9)的内部固定连接有定位杆(10)，所述定位杆(10)的端部固定连接有定位板(11)，所述定位板(11)的端部固定连接有磁环(12)，所述磁环(12)与磁块(7)为异级相吸状态；

所述弹簧(6)的弹力大于磁块(7)与磁环(12)相吸的力度，所述磁环(12)的数量为两个，两个所述磁环(12)的形状均为半圆形，且两个磁环(12)合并后组成圆形；

所述磁环(12)的外侧固定连接有滑动杆(13)，所述滑动杆(13)的端部转动连接有定位环(14)，所述定位环(14)的顶部固定连接有卡套(16)，所述卡套(16)的两侧固定连接有支撑板(17)，所述支撑板(17)的端部与套管(1)的侧面固定连接，所述支撑板(17)的底部安装有缓冲块(18)，所述缓冲块(18)的材质为橡胶块，且缓冲块(18)底部的形状为半圆状；

所述套管(1)的底部固定连接有矫正环(3)，所述矫正环(3)内圈的直径与针头(2)外圈的直径相匹配，所述定位杆(10)的端部螺纹连接有位于定位座(9)外部的螺母(15)，所述螺母(15)的直径大于定位座(9)与定位杆(10)相接处的直径。