[发明专利]一种调平角度和起竖角度测量方法、装置及系统有效
申请号: | 201910771823.7 | 申请日: | 2019-08-21 |
公开(公告)号: | CN110398222B | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 李荣;李向阳;李博;邵健帅;王飞;韩琪 | 申请(专利权)人: | 北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00;G01C9/00;G01C9/02;G01C25/00 |
代理公司: | 北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙) 11719 | 代理人: | 谷成 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平角 角度 测量方法 装置 系统 | ||
1.一种调平角度和起竖角度测量方法,其特征在于,包括:
设置双轴水平传感器和起竖回转角度传感器;
获取所述双轴水平传感器的采集信息,其中,所述双轴水平传感器的采集信息包括:X轴信息和Y轴信息;
根据所述X轴信息进行X轴向水平调节,使X轴向水平调节结果符合预设条件;
获取所述起竖回转角度传感器的采集信息,根据所述起竖回转角度传感器的采集信息,得到起竖时使用回转角度;
将所述起竖时使用回转角度与所述Y轴信息求和,得到起竖绝对角度的计算值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取所述双轴水平传感器的采集信息之前,还包括:
利用标准仪器对所述双轴水平传感器进行Y轴的标校。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在利用标准仪器对所述双轴水平传感器进行Y轴的标校之后,获取所述起竖回转角度传感器的采集信息之前,还包括:
使用标准测量设备测量所述起竖回转角度传感器的标校值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述使用标准测量设备测量所述起竖回转角度传感器的标校值包括:
使用所述标准测量设备,将回转臂起竖到绝对90度,将绝对90度减去当前双轴水平仪Y轴,得到所述起竖回转角度传感器的标校值。
5.一种调平角度和起竖角度测量装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取双轴水平传感器的采集信息,其中,所述双轴水平传感器的采集信息包括:X轴信息和Y轴信息;
调节模块,用于根据所述X轴信息进行X轴向水平调节,使X轴向水平调节结果符合预设条件;
所述获取模块,还用于获取起竖回转角度传感器的采集信息,根据所述起竖回转角度传感器的采集信息,得到起竖时使用回转角度;
计算模块,用于将所述起竖时使用回转角度与所述Y轴信息求和,得到起竖绝对角度的计算值。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:标校模块;
所述标校模块,用于在所述获取模块获取所述双轴水平传感器的采集信息之前,利用标准仪器对所述双轴水平传感器进行Y轴的标校。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述标校模块,还用于在利用标准仪器对所述双轴水平传感器进行Y轴的标校之后,所述获取模块获取所述起竖回转角度传感器的采集信息之前,使用标准测量设备测量所述起竖回转角度传感器的标校值。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述标校模块通过如下方式使用标准测量设备测量所述起竖回转角度传感器的标校值:
所述标校模块,具体用于使用所述标准测量设备,将回转臂起竖到绝对90度,将绝对90度减去当前双轴水平仪Y轴,得到所述起竖回转角度传感器的标校值。
9.一种调平角度和起竖角度测量系统,其特征在于,包括:双轴水平传感器、起竖回转角度传感器和如权利要求5-8任一项所述的调平角度和起竖角度测量装置;
双轴水平传感器,用于对水平传感信息进行采集,得到所述双轴水平传感器的采集信息,其中,所述双轴水平传感器的采集信息包括:X轴信息和Y轴信息;
所述起竖回转角度传感器,用于对起竖回转角度传感信息进行采集,得到所述起竖回转角度传感器的采集信息。
10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述双轴水平传感器安装在后梁上,所述起竖回转角度传感器安装在起竖回转轴上。
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