[发明专利]一种机床测头自动测量设定工件平面的方法

说明书

本申请属于数控加工领域，具体而言是一种机床测头自动测量设定工件平面的方法，其括如下步骤：步骤一、数控系统的基础测量程序的选择；步骤二、测量参数的选择和分配；步骤三、测量程序结构设计；步骤四、测量所需的测头运动轨迹的参数设计；步骤五、测量数值的比较判断。本申请根据实际加工中所需的测量操作进行的程序编制优化，该方法通过将测量所需的轨迹编程进行参数化的输入，将复杂繁琐的G代码编程简单化，为普通操作者及编程人员带来便利，提高产品质量及工作效率。

技术领域

本申请属于数控加工领域，具体而言是一种机床测头自动测量设定工件平面的方法。

背景技术

机械加工技术普遍遵循“定位-加工”操作模式，依据这一模式，如何按照设计与工艺要求实现被加工工件的精确定位成为保证工件加工合格的一个首要问题。在数控加工中Z0平面的找正及设定是数控加工的必要过程，传统找正方法为操作者采用标准对刀块在机床上对刀找出Z0面基准的位置，然后通过机床计算功能或手动将相关数据输入到数控系统中，以设定工件坐标系，此方法极易出现操作失误，由此带来工件的废品产生。在批量加工中由于操作繁琐操作者常常采用随机抽查的方式进行Z0的检查与设定，由此可能带来未抽样工件的错误装夹未发现的后果，导致工件超差报废的产生。航空制造业零件多以形状复杂、工艺要求较高、材料昂贵为主，由于操作失误带来的零件的超差报废为企业带来巨大损失。因此加工中的Z0平面检查与设定的准确性尤为重要。

发明内容

为了克服现有技术存在的上述问题，现提出一种基于西门子数控系统，通过编制嵌套西门子数控系统标准测量循环的程序，实现测头自动测量及设定工件Z0平面方法。

为实现上述技术问题，本申请所采用的技术方案如下：

一种机床测头自动测量设定工件平面的方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤一、数控系统的基础测量程序的选择；

步骤二、测量参数的选择和分配；

步骤三、测量程序结构设计；

步骤四、测量所需的测头运动轨迹的参数设计；

步骤五、测量数值的比较判断。

所述步骤一具体为：基于带有标准测量循环CYCLE978的西门子数控系统，使用西门子系统提供带形式参数的子程序功能，编制嵌套CYCLE978测量子程序的自动测量循环程序，将该子程序作为用户循环来使用。

所述步骤二具体为：选择控制测量点运动的参数。

具体选择至少如下10个变量参数:

UNDERSIDE：零件是否为底面对刀（底面为1，表面为0）；

OFFSET_NO：零件加工的原点地址号；

PART_H：零件的总厚度；

TOLERANCE：测量的公差；

AXIS_X1：测量点1的X坐标；

AXIS_Y1：测量点1的Y坐标；

AXIS_X2：测量点2的X坐标；

AXIS_Y2：测量点2的Y坐标；

AXIS_X3：测量点3的X坐标；

AXIS_Y3：测量点3的Y坐标；

上述10个参数中的第一个为布尔值，其余9个参数为实数。

所述步骤三具体为：

定义步骤二中的参数：

包含至少10个参数的子程序，