[发明专利]一种通过计算激发光源漂移对荧光信号进行校正的方法

说明书

本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种通过计算激发光源漂移对荧光信号进行校正的方法；该方法采用一种基于DMD的能够实现光源漂移校正的AFS实现，该方法首先确定AFS中数字微镜上下两端无荧光信号区域的范围，其次获取荧光信号值和激发光源信号值，再利用测量的一系列激发光源信号值和相应的荧光信号值计算出激发光源的漂移对荧光信号的影响值，并对荧光信号进行校正。

技术领域

本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种通过计算激发光源漂移对荧光信号进行校正的方法。

背景技术

在原子荧光光谱测量中，原子蒸汽浓度与激发光源强度直接影响测量的结果。在仪器各个方面稳定的理想状态下，激发光源的稳定会直接影响测量精度。现有的原子荧光光谱测量中，常用的激发光源是空心阴极灯，空心阴极灯的漂移一直是个难题，尤其是汞灯，其随温度变化光源强度变化很大。其他使用的激发光源如无极放电灯，也有稳定时间长、漂移严重等问题。为消除激发光源强度变化引起的荧光强度变化，需要在测量荧光信号的同时测量激发光源信号，利用激发光源强度和实测荧光信号的强度关系，校正激发光源漂移。目前对于激发光源漂移的检测有以下几种方式：

(1)在空心阴极灯与原子化器间放一块透视镜片，镜片与水平呈一定角度，让激发光源一部分透射过去，另一部分反射，同样用光电倍增管接收，缺点是人为的削弱了激发光源强度。

(2)在空心阴极灯与原子化器之间放一个反射镜的旋转机构，工作方法是空心阴极灯的光源直接照射到原子化器，激发产生荧光通过光电检测器接收，隔一定时间旋转机构工作，让反射镜把光源反射到另一光电检测器，缺点是多了运动机构增大仪器成本。

(3)在原子化器上设置另一个出射光路，在原子化器激发荧光工作前，利用光电检测装置检测通过透镜汇聚到原子化器的光，缺点是不能直接检测到激发光源的光。

在激发光源和原子化器之间设置一个反射镜，反射镜将激发光源的光反射到原子化器进行荧光激发；在反射镜中心位置设置一个孔并接入光纤传输激发光源信号并用检测器检测，缺点是需用两个检测器，增加了仪器成本同时存在检测差异性。

发明内容

为了克服上述问题，本发明提供一种通过计算激发光源漂移对荧光信号进行校正的方法，该方法采用一种基于DMD的能够实现光源漂移校正的AFS实现，该AFS通过在狭缝上下两端接入光纤将激发光源信号传输至数字微镜上下两端，通过数字微镜微妙级别的翻转速度实现对数字微镜上下两端的激发光源信号和中间部分的荧光信号检测，并对检测的两信号进行数据处理实现光源漂移校正。

一种基于数字微镜的能够实现光源漂移校正的色散型原子荧光光谱仪，包括激发光源1、原子化器2和色散系统，色散系统包括狭缝3、数字微镜5、凹面光栅4和反射镜6；狭缝3放置于原子化器2后方，使待测元素经原子化器2原子化后被激发光源1激发生成的荧光穿过狭缝3进入色散系统，荧光经色散系统的凹面光栅4反射进入数字微镜5，经数字微镜5反射进入反射镜6，再经反射镜6反射进入检测器7，检测器7用于输出荧光信号值；

其中色散系统还包括第一光纤8和第二光纤9，第一光纤8的一端与第二光纤9的一端分别通过固定装置固定连接在狭缝3的上下两端，第一光纤8另一端与第二光纤9另一端均安装在激发光源1与原子化器2之间，将激发光源信号传输至狭缝3上下两端；狭缝3上下两端分别通过第一光纤8与第二光纤9将激发光源信号传输到凹面光栅4，激发光源信号经凹面光栅4反射进入数字微镜5，经数字微镜5反射进入反射镜6，再经反射镜6反射进入检测器7，检测器7用于输出激发光源信号值；

一种应用上述的色散型原子荧光光谱仪进行的通过计算激发光源漂移对荧光信号进行校正的方法，包括如下步骤:

步骤一、确定数字微镜5上下两端无荧光信号区域的范围：