[发明专利]监控MOSFET栅极线端切割工艺波动的方法

说明书

本发明公开了一种监控MOSFET栅极线端切割工艺波动的方法，步骤一、制作前层栅极套刻图形，该栅极套刻图形排列于整个套刻标记的外围；步骤二、制作当层栅极线端切割层套刻图形，该栅极线端切割层套刻图形排列于整个套刻标记的内侧；步骤三、量测套刻精度值和特征尺寸值，分别补正栅极切割层套刻偏差和曝光能量片内分布。本发明能够提高曝光条件的反馈速度，提高效率，降低成本。

技术领域

本发明涉及集成电路制造领域，特别是涉及一种监控MOSFET(金属-氧化物半导体场效应晶体管)栅极线端切割工艺波动的方法。

背景技术

传统的栅极切割层特征尺寸量测是通过扫描式电子显微镜来量测的，其原理是高能电子束轰击硅片光刻胶，利用光刻胶上反射回来的二次电子信号实现特征尺寸线宽的量测。但电子束的轰击会引起光刻胶图形变形，影响特征尺寸线宽的量测结果的真实度和准确度。量产中的关键尺寸量测通常只量9～13个重复单元而不是所有重复单元，位置分散且取样较少，不能代表片内特征尺寸的均匀性，如果某些个别量测或非量测重复单元的栅极切割图形的特征尺寸过大，其距离临近栅极更近的话，会增加误切的概率。量产中套刻精度的量测和特征尺寸的量测是分开进行的，使用了两种量测设备，增加了量测时间和设备投入。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种监控MOSFET栅极线端切割工艺波动的方法，能够提高曝光条件的反馈速度，提高效率，降低成本。

为解决上述技术问题，本发明的监控MOSFET栅极线端切割工艺波动的方法，包括如下步骤：

步骤一、制作前层栅极套刻图形，该栅极套刻图形排列于整个套刻标记的外围；

步骤二、制作当层栅极线端切割层套刻图形，该栅极线端切割层套刻图形排列于整个套刻标记的内侧；

步骤三、量测套刻精度值和特征尺寸值，分别补正栅极线端切割层套刻偏差和曝光能量片内分布。

本发明通过将符合切割图形特征尺寸的密集阵列按规则几何图形排列成栅极线端切割层套刻标记，在光学量测前后两层栅极切割层套刻标记的偏差的同时，也能量测密集陈列中的小孔水平及垂直方向的尺寸。这样做的效果一是提高了曝光条件的反馈速度，节省了时间成本，也省去电子束特征尺寸量测设备。二是避免了常规的电子束量测对图形高能轰击造成的量测影响，提高了特征尺寸量测的准确度。三是利用套刻图形在硅片中的密集分布，增大特征尺寸数值样本，极大提高特征尺寸片内的均匀性，增大了栅极切割层工艺窗口，提升了产品良率。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1是完整的栅极切割层套刻图形示意图；

图2是竖直的当层栅极线端切割层套刻图形示意图；

图3是水平的当层栅极线端切割层套刻图形示意图。

具体实施方式

所述监控MOSFET栅极线端切割工艺波动的方法，在下面的实施例中，以典型的28nm Poly-SiON(多晶硅栅-氮氧化硅介质)MOSFET为例，具体实施过程如下：

步骤一、结合图1所示，制作前层栅极套刻图形，该图形由多个排列规则的线性条组成，且排列于整个套刻标记的外围。所述前层栅极套刻图形呈大风车状。所述前层栅极套刻图形还可以由多个栅极条组成，栅极条的长度为2～10μm，宽度为0.5～2μm，栅极条间距为0.5～2μm。