[发明专利]基于地震数据体的薄砂体表征方法及装置

权利要求书

1.一种基于地震数据体的薄砂体表征方法，其特征在于，所述方法包括：

根据地震数据体确定待分析层位；

基于确定的待分析层位将所述地震数据体转换为属性数据体；

调整所述属性数据体中的时窗值和阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征，具体步骤如下：

将所述时窗值调整为第一时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第一时窗值条件下第一薄砂体的第一展布特征；其中，所述第一时窗值条件为所述第一薄砂体的第一展布特征与地质模型的差值在预设范围内；

将所述时窗值调整为第二时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第二时窗值条件下所述第一薄砂体的第二展布特征；

比较所述第一展布特征和所述第二展布特征，将最清晰的展布特征确定为所述第一薄砂体的展布特征；

重复上述步骤，以获得其他薄砂体的展布特征。

2.根据权利要求1所述的薄砂体表征方法，其特征在于，所述根据地震数据体确定待分析层位，包括：

从井资料获取需要预测的目的层段；

基于所述需要预测的目的层段建立井与地震数据体的对应关系；

基于所述对应关系确定待分析层位。

3.根据权利要求2所述的薄砂体表征方法，其特征在于，所述待分析层位为波峰强反射层位。

4.根据权利要求1所述的薄砂体表征方法，其特征在于，所述属性数据体包括均方根振幅数据体。

5.一种基于地震数据体的薄砂体表征装置，其特征在于，包括：

确定单元，用于根据地震数据体确定待分析层位；

数据转换单元，用于基于确定的待分析层位将所述地震数据体转换为属性数据体；

处理单元，用于调整所述属性数据体中的时窗值和阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征；

所述处理单元包括：

调整模块，其用于将所述时窗值调整为第一时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第一时窗值条件下第一薄砂体的第一展布特征；其中，所述第一时窗值条件为所述第一薄砂体的第一展布特征与地质模型的差值在预设范围内；

将所述时窗值调整为第二时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第二时窗值条件下所述第一薄砂体的第二展布特征；以及

比较模块，其用于比较所述第一展布特征和所述第二展布特征，将最清晰的展布特征确定为所述第一薄砂体的展布特征。

6.根据权利要求5所述的薄砂体表征装置，其特征在于，所述确定单元，用于从井资料获取需要预测的目的层段；基于所述需要预测的目的层段建立井与地震数据体的对应关系；基于所述对应关系确定待分析层位。

7.根据权利要求6所述的薄砂体表征装置，其特征在于，所述待分析层位为波峰强反射层位。

8.根据权利要求5所述的薄砂体表征装置，其特征在于，所述属性数据体包括均方根振幅数据体。