[发明专利]基于地震数据体的薄砂体表征方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于地震数据体的薄砂体表征方法及装置，涉及地震沉积学技术领域。所述方法包括：根据地震数据体确定待分析层位；根据确定的待分析层位将地震数据体转换为属性数据体；调整所述属性数据体中的时窗值和/或阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征。本发明能够实现利用相对低分辨率的地震数据体预测薄砂体。

技术领域

本发明涉及地震沉积学技术领域，特别涉及一种基于地震数据体的薄砂体表征方法及装置。

背景技术

在地震沉积学研究中，经常借助井点数据和地震数据体等资料，利用地质地震综合研究的方法对砂体进行表征及预测。但是通过大量的实践发现，在井资料与地震数据体结合应用的过程中，往往存在尺度跨越，特别是对于厚度小于20m的砂体难以实现有效的分辨，而实践中单层砂体的厚度大都小于10m，因而目前的地震资料对于砂体预测的分辨率仍相对较差。

相关技术中，预测薄砂体的方法主要是在原始地震数据体上进行属性提取或进行反演后提取属性，采用上述处理后的数据体通常反映的是多个薄砂体的叠合特征。而在油气勘探和开发的过程中，单层薄砂体的准确预测对于提高钻探成功率具有重要意义，因此急需一种薄砂体表征方法。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于地震数据体的薄砂体表征方法及装置，以解决相关技术中的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用了以下技术方案：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种基于地震数据体的薄砂体表征方法，所述方法包括：

根据地震数据体确定待分析层位；

基于确定的待分析层位将所述地震数据体转换为属性数据体；

调整所述属性数据体中的时窗值和/或阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征。

可选地，所述根据地震数据体确定待分析层位，包括：

从井资料获取需要预测的目的层段；

基于所述需要预测的目的层段建立井与地震数据体的对应关系；

基于所述对应关系确定待分析层位。

可选地，所述待分析层位为波峰强反射层位。

可选地，所述调整所述属性数据体中的时窗值和/或阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征，包括：

将所述时窗值调整为第一时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第一时窗值条件下第一薄砂体的第一展布特征；

将所述时窗值调整为第二时窗值；

随机调整所述阻光度曲线，直至获得所述第二时窗值条件下所述第一薄砂体的第二展布特征；

比较所述第一展布特征和所述第二展布特征，将最清晰的展布特征确定为所述第一薄砂体的展布特征；

重复上述步骤，以获得其他薄砂体的展布特征。

其中，所述属性数据体包括均方根振幅数据体。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种基于地震数据体的薄砂体表征装置，包括：

确定单元，用于根据地震数据体确定待分析层位；

数据转换单元，用于基于确定的待分析层位将所述地震数据体转换为属性数据体；

处理单元，用于调整所述属性数据体中的时窗值和/或阻光度曲线，获得至少一层薄砂体的展布特征。