[发明专利]用于消除CVD和图案化HVM系统的晶片弯曲的方法和设备在审
申请号: | 201910795028.1 | 申请日: | 2019-08-27 |
公开(公告)号: | CN110943000A | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | S·盛;L·张;J·C·沃纳 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;C23C16/44;C23C16/04;C23C14/22;C23C14/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 汪骏飞;侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 消除 cvd 图案 hvm 系统 晶片 弯曲 方法 设备 | ||
1.一种使弯曲基板变平的方法,所述方法包括:
提供基板,所述基板具有形成在所述基板的第一主表面上的膜堆叠,其中所述基板包括弯曲取向;以及
在所述基板的第二主表面上形成涂层,其中所述涂层被配置为抵消由所述膜堆叠产生的应力并使所述基板从所述弯曲取向变平。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述涂层是毯覆式膜。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述涂层是预成型膜。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述预成型膜是凹形的。
5.如权利要求3所述的方法,其中所述预成型膜是凸形的。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述涂层是图案化膜。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述图案化膜包括第一部分和第二部分。
8.如权利要求7所述的方法,其中所述第一部分具有与所述第二部分的组成物、膜厚度和/或膜类型不同的组成物、膜厚度和/或膜类型。
9.如权利要求7所述的方法,其中所述第一部分围绕所述第二部分。
10.一种使弯曲基板变平的方法,所述方法包括:
将基板提供到背面涂覆腔室中,所述基板具有形成在所述基板的第一主表面上的膜堆叠,其中所述基板包括弯曲取向;以及
在所述基板的第二主表面上形成涂层,其中所述涂层被配置为抵消由所述膜堆叠产生的应力并使所述基板从所述弯曲取向变平。
11.如权利要求10所述的方法,其中所述涂层是毯覆式膜。
12.如权利要求10所述的方法,其中所述涂层是预成型膜。
13.如权利要求12所述的方法,其中所述预成型膜是凹形的。
14.如权利要求12所述的方法,其中所述预成型膜是凸形的。
15.如权利要求10所述的方法,其中所述涂层是图案化膜。
16.如权利要求15所述的方法,其中所述图案化膜包括第一部分和第二部分。
17.如权利要求16所述的方法,其中所述第一部分具有与所述第二部分的组成物、膜厚度和/或膜类型不同的组成物、膜厚度和/或膜类型。
18.一种背面涂覆腔室,包括:
台架,所述台架被配置为以面向下的取向接收基板,所述基板具有形成在所述基板的第一主表面上的膜堆叠;
保持器,所述保持器耦接到所述台架,以用于由所述保持器的边缘来保持所述基板;以及
涂覆设备,所述涂覆设备用于将背面涂层沉积到所述基板的第二主表面上。
19.如权利要求18所述的背面涂覆腔室,其中所述涂覆设备包括化学气相沉积设备、物理气相沉积设备或电感耦接等离子体沉积设备。
20.如权利要求18所述的背面涂覆腔室,进一步包括掩模,所述掩模与所述基板的所述第二主表面相邻地定位。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造