[发明专利]半导体封装件在审

专利信息
申请号: 201910800996.7 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN110970413A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 崔根镐 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L23/528;H01L23/538
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;赵莎
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装
【权利要求书】:

1.一种堆叠半导体封装件,所述堆叠半导体封装件包括:

封装基底基板,所述封装基底基板包括多条信号线和至少一条电源线,其中,多个顶面连接焊盘和多个底面连接焊盘分别位于所述封装基底基板的顶面和底面上;以及

多个半导体芯片,所述多个半导体芯片被顺序地堆叠在所述封装基底基板上并且电连接到所述顶面连接焊盘,所述多个半导体芯片包括作为所述多个半导体芯片中的最底层半导体芯片的第一半导体芯片,以及位于所述第一半导体芯片上的第二半导体芯片,

其中,所述多条信号线与所述封装基底基板的与所述第一半导体芯片的第一边缘交叠的第一部分间隔开,所述第一边缘在垂直于所述封装基底基板的垂直方向上与所述第二半导体芯片交叠。

2.根据权利要求1所述的堆叠半导体封装件,其中,所述多条信号线中的至少一些信号线穿过所述封装基底基板的与所述第一半导体芯片的第二边缘交叠的第二部分,所述第二边缘在所述垂直方向上与所述第二半导体芯片不交叠。

3.根据权利要求1所述的堆叠半导体封装件,其中,每一个所述底面连接焊盘在平行于所述封装基底基板的水平方向上具有第一宽度,并且

其中,所述多条信号线与所述封装基底基板的与所述第一边缘交叠的所述第一部分在所述水平方向上间隔开了第二宽度,所述第二宽度等于或大于所述第一宽度。

4.根据权利要求3所述的堆叠半导体封装件,其中,所述第二宽度等于所述第一宽度或者是所述第一宽度的两倍。

5.根据权利要求3所述的堆叠半导体封装件,其中,所述至少一条电源线的一部分位于从所述封装基底基板的与所述第一半导体芯片的所述第一边缘交叠的所述第一部分起的所述第二宽度内。

6.根据权利要求3所述的堆叠半导体封装件,其中,所述至少一条电源线穿过所述封装基底基板的与所述第一半导体芯片的所述第一边缘交叠的所述第一部分。

7.根据权利要求1所述的堆叠半导体封装件,其中,所述第一边缘包括所述第一半导体芯片的所有边缘。

8.根据权利要求1所述的堆叠半导体封装件,其中,所述第一边缘包括所述第一半导体芯片的边缘当中的一个整个边缘和两个其他边缘的一部分。

9.根据权利要求1所述的堆叠半导体封装件,其中,所述第一边缘包括所述第一半导体芯片的边缘当中的两个边缘的一部分。

10.一种堆叠半导体封装件,所述堆叠半导体封装件包括:

封装基底基板,所述封装基底基板包括多个层、多条信号线、至少一条电源线和多个球焊盘,所述多个层包括顶层和底层,所述多条信号线和所述至少一条电源线位于至少一些所述层中,并且所述多个球焊盘位于所述底层中并各自具有第一宽度;以及

多个半导体芯片,所述多个半导体芯片被堆叠在所述封装基底基板上并且包括作为所述多个半导体芯片中的最底层半导体芯片的第一半导体芯片,以及在所述第一半导体芯片上的第二半导体芯片,

其中,所述封装基底基板还包括具有第一区域和第二区域的交叠区域,

其中,所述第一区域具有等于或大于所述第一宽度的第二宽度并且从所述封装基底基板的与所述第一半导体芯片的第一边缘交叠的第一部分起在所述第一半导体芯片的底面下延伸,所述第一边缘在垂直于所述封装基底基板的垂直方向上与所述第二半导体芯片交叠,

其中,所述第二区域具有所述第二宽度并且从所述封装基底基板的所述第一部分起在所述第一半导体芯片的所述底面的外部延伸,并且

其中,在所述底层中,所述多条信号线不位于所述第二区域中。

11.根据权利要求10所述的堆叠半导体封装件,其中,所述多个球焊盘中的至少一个球焊盘是完全位于所述交叠区域中的区域内球焊盘,并且

其中,在所述底层中连接到所述区域内球焊盘的延伸信号线的一部分位于所述交叠区域中。

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