[发明专利]智能烹饪器具的校准和保温方法、具有探针的智能烹饪器具

权利要求书

1.一种智能烹饪器具的校准方法，通过将探测装置测得的数据与标定数值进行比较，实现智能烹饪器具的校准，其特征在于，所述校准方法包括以下步骤：

1)将探测装置分别插入已标定水分含量的第一测试块和第二测试块，且第一测试块的真实水分含量为M_S1，第二测试块的真实水分含量为M_S2；

2)通过探测装置测得第一测试块的电容C_S1和阻抗Z_S2，测得第二测试块的电容C_S2和阻抗Z_S2，计算水分含量定标参数N和K；

3)通过水分含量定标参数N、K计算第一测试块的水分含量测试值M_T1以及第二测试块的水分含量测试值M_T2；

4)如果|M_T1-M_S1|≥0.5％或|M_T2-M_S2|≥0.5％，则产生第一测试块水分含量的补偿值M′_T1以及第二测试块水分含量的补偿值M′_T2，使|M′_T1-M_S1|＜0.5％且|M′_T2-M_S2|＜0.5％，通过M′_T1与M_T1、M′_T2与M_T2之间的比例关系或差值关系对智能烹饪器具进行校准。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于：步骤2中第一测试块的电容C_S1、第一测试块的阻抗Z_S1、第二测试块的电容C_S2、第二测试块的阻抗Z_S2与水分含量定标参数N、K之间具有如下关系：

N＝(lnC_S1Z_S1-lnC_S1Z_S2)/(lnM_S2-lnM_S1)；

K＝exp[(lnC_S1Z_S1*lnM_S2-lnC_S1Z_S2*lnM_S1)/(lnM_S2-lnM_S1)]。

3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于：所述第一测试块的水分含量测试值M_T1、第二测试块的水分含量测试值M_T2、第一定标参数N和第二定标参数K之间具有如下关系：M_T1＝K/[(0.26Z_S1+5.67C_S1)N]，M_T2＝K/[(0.26Z_S2+5.67C_S2)N]。

4.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于：步骤4中M′_T1与M_T1的差值为D₁、M′_T2与M_T2的差值为D₂，将D₁与D₂的算术平均值D作为探测装置的测量数据的补偿值。