[发明专利]智能烹饪器具的校准和保温方法、具有探针的智能烹饪器具

说明书

本发明公开了一种智能烹饪器具的校准和保温方法、具有探针的智能烹饪器具，通过探测食物内部的电阻、电容、电抗，计算食物的保温特性值，并控制保温特性值在一定的范围内，实现对食物的智能保温；通过探测食物内部的电阻、电容、电抗，计算食物内部的水分含量，并与标定值进行比较，实现智能烹饪器具的校准，提高了智能烹饪器具的准确性。

技术领域

本发明涉及智能控制技术领域，具体涉及智能烹饪器具的校准和保温方法、具有探针的智能烹饪器具。

背景技术

智能烹饪器具是利用智能控制方法来辅助烹饪的设备，方便用户操作，让烹饪变得更加简单。

智能烹饪器具中的探测装置经过一段时间的时候后，测量得到的数据与实际数据差别较大，现有技术中没有行之有效的校准方法。

现有技术中的智能烹饪器具实现对食物的烹饪后，无法根据食物的特点和内部的参数制定合理的保温程序，无法实现对食物的智能保温。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种智能烹饪器具的校准和保温方法、具有探针的智能烹饪器具，通过探测食物内部的电参数实现对食物的智能保温，并通过测量值与标定值的对比，实现智能烹饪器具的校准。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种智能烹饪器具的校准方法，通过将探测装置测得的数据与标定数值进行比较，实现智能烹饪器具的校准，所述校准方法包括以下步骤：

1)将探测装置分别插入已标定水分含量的第一测试块和第二测试块，且第一测试块的真实水分含量为M_S1，第二测试块的真实水分含量为M_S2；

2)通过探测装置测得第一标注测试块的电容C_S1和阻抗Z_S2，测得第二测试块的电容C_S2和阻抗C_S2，计算水分含量定标参数N和K；

3)通过水分含量定标参数N、K计算第一测试块的水分含量测试值M_T1以及第二测试块的水分含量测试值M_T2；

4)如果|M_T1-M_S1|≥0.5％或|M_T2-M_S2|≥0.5％，则产生第一测试块水分含量的补偿值M′_T1以及第二测试块水分含量的补偿值M′_T2，使|M′_T1-M_S1|＜0.5％且 |M′_T2-M_S2|＜0.5％，通过M′_T1与M_T1、M′_T2与M_T2之间的比例关系或差值关系对智能烹饪器具进行校准。

进一步地，步骤2中第一测试块的电容C_S1、第一测试块的阻抗Z_S1、第二标准测试测试块的电容C_S2、第二标准测试测试块的阻抗Z_S2与水分含量定标参数N、K之间具有如下关系：

N＝(lnC_S1Z_S1-lnC_S1Z_S2)/(lnM_S2-lnM_S1)；

K＝exp[(lnC_S1Z_S1*lnM_S2-lnC_S1Z_S2*lnM_S1)/(lnM_S2-lnM_S1)]。