[发明专利]中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种中断响应时间测试方法，其特征在于，包括步骤：

向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；所述中断激励信号用于指示所述待测处理器执行中断动作，并读取所述陪测器件中的本地时间；所述中断激励信号用于指示所述陪测器件清零或锁存当前时刻；

接收所述待测处理器反馈的所述本地时间，以及所述陪测器件反馈的所述当前时刻，并获取所述待测处理器读取所述本地时间的读操作时长；

基于以下公式，得到所述待测处理器本次测试的中断响应时间：

T_IR＝T_R-T_read-T₁；

其中，T_IR为所述中断响应时间；T_read为所述读操作时长；T_R为所述本地时间，T₁为所述当前时刻。

2.根据权利要求1所述的中断响应时间测试方法，其特征在于，所述得到所述待测处理器本次测试的中断响应时间的步骤之后，还包括步骤：

在得到所述待测处理器本次测试的中断响应时间时，累加中断响应时间测试次数，直至所述中断响应时间的测试次数达到预设值；

当所述中断响应时间测试次数达到预设值时，根据各所述中断响应时间，获取中断响应平均时间。

3.根据权利要求1所述的中断响应时间测试方法，其特征在于，向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号的步骤之前，还包括步骤：

对所述中断激励信号进行相位对齐处理。

4.根据权利要求1所述的中断响应时间测试方法，其特征在于，获取所述待测处理器读取所述本地时间的读操作时长的步骤，包括：

指示所述待测处理器读取所述陪测器件的本地时刻；

接收所述陪测器件反馈的所述本地时刻；

在接收到所述陪测器件的所述本地时刻时，累加读操作时长测试次数直至所述读操作时长的测试次数达到预设次数；

当所述读操作时长的测试次数达到预设次数时，处理各所述本地时刻，得到所述读操作时长。

5.根据权利要求4所述的中断响应时间测试方法，其特征在于，处理各所述本地时刻，得到所述读操作时长的步骤中，基于以下公式，得到所述读操作时长：

其中，ΔT_m为第m次测试读操作时长；T_m+1为第m+1次测试的本地时刻；T_m为第m次测试的本地时刻；T_s为所述中断激励信号的时间间隔；T_read为所述读操作时长。

6.根据权利要求1所述的中断响应时间测试方法，其特征在于，对待测处理器输出中断激励信号的步骤之前，还包括步骤：

采用秒脉冲信号对所述陪测器件进行时间误差修正处理。

7.一种中断响应时间测试装置，其特征在于，包括：

信号输出模块，用于向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；所述中断激励信号用于指示所述待测处理器执行中断动作，并读取所述陪测器件中的本地时间；所述中断激励信号用于指示所述陪测器件执行响应动作，所述响应动作包括清零或锁存当前时刻；

本地时间获取模块，接收所述待测处理器反馈的所述本地时间，以及所述陪测器件反馈的所述当前时刻；

读操作时长获取模块，用于获取所述待测处理器读取所述本地时间的读操作时长；

数据处理模块，用于基于以下公式，得到所述待测处理器本次测试的中断响应时间：

T_IR＝T_R-T_read-T₁；

其中，T_IR为所述中断响应时间；T_read为所述读操作时长；T_R为所述本地时间，T₁为所述当前时刻。