[发明专利]中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质。其中，中断响应时间测试方法包括向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；接收待测处理器反馈的本地时间，以及陪测器件反馈的当前时刻，并获取待测处理器读取本地时间的读操作时长；处理当前时刻、读操作时长和本地时间，得到待测处理器本次测试的中断响应时间。通过同时向待测处理器和陪测器件输出中断激励信号，使得待测处理器执行的中断动作和陪测器件清零或锁存当前时刻的动作可以进行，从而避免了动作不一致带来的误差，使得中断响应时间的测试更加准确。获取到待测处理器读取本地时间的读操作时长，从而得到待测处理器的中断响应时间更加精确。

技术领域

本申请涉及处理器技术领域，特别是涉及一种中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

随着微电子工艺技术的进步，集成电路产品的应用越来越广泛，在国民经济和国防安全中无处不在。处理器是集成电路产品的核心，起着计算处理、控制、调度等作用。中断功能是处理器的关键功能之一，中断响应时间表征了处理器的性能参数的好坏。更短的中断响应时间使处理器能够对外部中断产生更快的响应，提升处理器的处理能力。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统处理器中断响应时间的测试方法存在精度不高的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高中断响应时间测试精度的中断响应时间测试方法、装置、设备和存储介质。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种中断响应时间测试方法，包括步骤：

向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号；中断激励信号用于指示待测处理器执行中断动作，并读取陪测器件中的本地时间；中断激励信号用于指示陪测器件清零或锁存当前时刻；

接收待测处理器反馈的本地时间，以及陪测器件反馈的当前时刻，并获取待测处理器读取本地时间的读操作时长；

处理当前时刻、读操作时长和本地时间，得到待测处理器本次测试的中断响应时间。

在其中一个实施例中，处理当前时刻、读操作时长和本地时间，得到待测处理器本次测试的中断响应时间的步骤之后，还包括步骤：

在得到待测处理器本次测试的中断响应时间时，累加中断响应时间测试次数，直至中断响应时间的测试次数达到预设值；

当中断响应时间测试次数达到预设值时，根据各中断响应时间，获取中断响应平均时间。

在其中一个实施例中，向待测处理器和陪测器件同时输出中断激励信号的步骤之前，还包括步骤：

对中断激励信号进行相位对齐处理。

在其中一个实施例中，获取待测处理器读取本地时间的读操作时长的步骤，包括：

指示待测处理器读取陪测器件的本地时刻；

接收陪测器件反馈的本地时刻；

在接收到陪测器件的本地时刻时，累加读操作时长测试次数直至读操作时长的测试次数达到预设次数；

当读操作时长的测试次数达到预设次数时，处理各本地时刻，得到读操作时长。

在其中一个实施例中，处理各本地时刻，得到读操作时长的步骤中，基于以下公式，得到读操作时长：

其中，ΔT_m为第m次测试读操作时长；T_m+1为第m+1次测试的本地时刻；T_m为第m次测试的本地时刻；T_s为中断激励信号的时间间隔；T_read为读操作时长。