[发明专利]一种高世代TFT玻璃A型架检测装置

权利要求书

1.一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，其特征在于，包括水平基座，水平基座顶面画有矩形标志线，矩形标志线作为A型架的放置区域；水平基座顶面两侧对称设有呈直角三角形的检测架，检测架的朝向与A型架的朝向相同、且检测架斜边的斜度与A型架相同；两个检测架底部之间连接有定位挡板，定位挡板用于对A型架底座进行定位，定位挡板设有用于对A型架底座后部长度进行测量的第一刻度；

检测架底边上方设有水平的第一标尺，第一标尺套设有第一滑块与第二滑块，第一滑块与第二滑块顶面分别连接有第一U形卡与第二U形卡，第一U形卡内水平横向设有第一测量尺，第二U形卡内设有呈L形的第二测量尺；第一标尺、第一测量尺与第二测量尺用于对A型架宽度、A型架底座前部长度进行测量；

检测架的顶角设有第二标尺，第二标尺与第一标尺的朝向相同，第二标尺套设有第三滑块，第三滑块顶面连接有第三U形卡，第三U形卡内设有呈L形的第三测量尺；第二标尺与第三测量尺用于对A型架高度以及第一张玻璃的放置位置进行测量。

2.根据权利要求1所述的一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括方杆、两个上基准矩形块与两个可移动基准矩形块，两个上基准矩形块分别对应固定于两个检测架的斜边，两个可移动基准矩形块分别对应设于两个上基准矩形块下方、且与检测架的斜边磁吸固定；所述方杆可架设于两个上基准矩形块或两个可移动基准矩形块之间。

3.根据权利要求1或2所述的一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括基准面测量方杆，两个检测架的斜边底部分别连接有上翘的斜板，斜板板面形成A型架底板基准面；基准面测量方杆置于A型架底板，与斜板共同检测A型架底板的平面度。